[实用新型]一种老化测试板

说明书

本申请公开了一种老化测试板，包括：支撑板，所述支撑板沿厚度方向设置有至少一个通孔，所述通孔包括第一端和第二端，所述通孔的内壁上设置有第一锁扣部；至少一个测试线，所述测试线包括连接部本体、第二锁扣部以及测试接口，所述测试接口从所述连接部本体的一端向外延伸，所述第二锁扣部设置在所述连接部本体的侧面，当所述连接部本体所述测试接口所在的一端从所述第一端插入所述通孔时，所述第二锁扣部与所述第一锁扣部可拆卸地连接，并且所述测试接口朝向所述第二端。本申请可以避免因为需要更换新的测试线而将整块老化测试板进行报废，从而降低了老化测试的成本，并且可以增加老化测试板的适用范围。

技术领域

本申请涉及存储芯片测试技术领域，具体涉及一种老化测试板。

背景技术

为了保证存储芯片的质量，一般要对存储芯片进行通电老化测试，以激发其潜在的失效风险。

相关技术中，通电老化测试是将老化测试板放置于老化实验箱内，再对通过老化测试板与存储芯片连接的液晶显示模组进行点亮刷屏。老化测试板一般是竖直放置，测试线与老化测试板一体化成型，当测试线的连接端口出现磨损时，有可能会导致储存芯片连接所述连接端口会出现松动的情况，从而导致储存芯片的端口部出现下坠损坏存储芯片，或者引起接触不良而导致点亮刷屏时信号断开，进而导致测试中断，此时需要更换新的老化测试板，而没有损坏的测试线也会因此而报废，造成浪费，增加了测试成本。

实用新型内容

本申请实施例提供一种老化测试板，可以降低老化测试板的成本。

本申请实施例提供一种老化测试板，包括：

支撑板，所述支撑板沿厚度方向设置有至少一个通孔，所述通孔包括第一端和第二端，所述通孔的内壁上设置有第一锁扣部；

至少一个测试线，所述测试线包括连接部本体、第二锁扣部以及测试接口，所述测试接口从所述连接部本体的一端向外延伸，所述第二锁扣部设置在所述连接部本体的侧面，当所述连接部本体所述测试接口所在的一端从所述第一端插入所述通孔时，所述第二锁扣部与所述第一锁扣部可拆卸地连接。

可选的，所述第一锁扣部为凹槽；

所述第二锁扣部包括卡合部和凸起，所述卡合部的一端固定于所述连接部本体的侧面，所述凸起设置在所述卡合部的另一端远离所述连接部本体的侧面的一侧，当所述连接部本体从所述第一端插入所述通孔时，所述凸起与所述凹槽配合，将所述测试线固定于所述通孔中。

可选的，所述卡合部包括连接板和弯折板；

所述连接板的一端固定于所述连接部本体的侧面，所述弯折板由所述连接板的另一端向所述测试接口的一侧弯折延伸，所述凸起设置在所述弯折板远离所述连接板的一端；

所述弯折板在受到弯曲作用力时相对所述连接板产生弹性形变。

可选的，所述卡合部还包括弹片；

所述弹片的一端连接在所述连接板远离所述弯折板的一端，另一端连接在所述弯折板远离所述连接板的一端。

可选的，所述弹片为向远离所述连接部本体的一侧凸起的弧形。

可选的，所述通孔的内壁设有台阶，当所述连接部本体从所述第一端插入所述通孔时，所述弯折板远离所述连接板的一端支撑在所述台阶上。

可选的，所述弯折板沿所述支撑板的厚度方向的长度大于所述第一端至所述台阶的距离。

可选的，所述第二端至所述测试接口的距离满足如下条件：当待测试模块从所述第二端插入所述通孔并连接至所述测试接口时，所述待测试模块至少一部分超出所述支撑板，并且超出长度小于所述待测试模块的长度的二分之一。

可选的，所述支撑板在所述通孔的第二端处设置有围壁。