[实用新型]千分尺测微头示值误差检定架有效
申请号: | 202123405982.7 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN217210614U | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 俞斌斌;沈君;宋志刚;鲁永超;姚志峰;莫月明 | 申请(专利权)人: | 嘉兴市善正计量技术有限公司 |
主分类号: | G01B3/18 | 分类号: | G01B3/18 |
代理公司: | 杭州昱呈专利代理事务所(普通合伙) 33303 | 代理人: | 周朝 |
地址: | 314100 浙江省嘉兴市嘉善县罗星街*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 千分尺 测微头示值 误差 检定 | ||
1.千分尺测微头示值误差检定架,包括固定块(1),其特征在于:
所述固定块(1)前端面固定连接有测量块(2),所述测量块(2)前端面固定连接有固定环(3),所述固定块(1)前端面开设有滑槽(4),所述滑槽(4)内部一表面固定连接有弹簧(5),所述弹簧(5)顶端固定连接有伸缩杆(6),所述固定环(3)周侧面开设有若干螺纹孔(8),所述螺纹孔(8)内壁螺纹连接有螺纹杆(10)。
2.根据权利要求1所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述伸缩杆(6)后端固定连接有限位块(7),所述限位块(7)与滑槽(4)尺寸相匹配。
3.根据权利要求1所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述固定环(3)前端面开设有通槽(9),所述通槽(9)贯穿测量块(2)。
4.根据权利要求3所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述固定环(3)与测量块(2)前端面尺寸相匹配,所述固定块(1)与测量块(2)后端面尺寸相匹配。
5.根据权利要求2所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述滑槽(4)内壁设置有卡块,所述卡块与限位块(7)尺寸相适应且卡接配合。
6.根据权利要求5所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述螺纹杆(10)的长度与固定环(3)尺寸相匹配,所述伸缩杆(6)与测量块(2)尺寸相适应。
7.根据权利要求1所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述固定块(1)上方开设有螺纹槽,所述螺纹槽螺纹连接有限位杆(11),所述限位杆(11)贯穿固定块(1)插入滑槽(4)中,所述限位杆(11)与伸缩杆(6)滑动配合。
8.根据权利要求7所述的千分尺测微头示值误差检定架,其特征在于,所述伸缩杆(6)周侧面开设有若干刻度槽,所述刻度槽与伸缩杆(6)尺寸相匹配。
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