[实用新型]一种便于调节的集成电路测试装置

权利要求书

1.一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，包括：底板(1)、装设在底板(1)上侧的托板(2)、装设在底板(1)与托板(2)之间的调节机构；

托板(2)上侧滑动配合有两组夹持机构，夹持机构包括双轴伸电机(3)、滑动配合两夹板(4)、分别装设在双轴伸电机(3)输出轴两端的两螺纹拉杆(5)，且螺纹拉杆(5)与夹板(4)螺纹配合，一双轴伸电机(3)固定在托板(2)上侧且与另一双轴伸电机(3)固定连接。

2.如权利要求1所述的一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，夹板(4)包括滑动配合在托板(2)上侧且与螺纹拉杆(5)螺纹配合的竖板(401)、装设在竖板(401)上侧的弧形板(402)。

3.如权利要求2所述的一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，夹持机构内的两弧形板(402)上端之间的间距大于下端之间的间距，弧形板(402)开口朝向双轴伸电机(3)，弧形板(402)内侧设有橡胶垫。

4.如权利要求1所述的一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，调节机构包括开设在底板(1)上侧的四个阶梯槽(6)、活动配合在阶梯槽(6)内的活动板(7)、装在底板(1)与托板(2)之间的五个电动推杆(8)、装设在电动推杆(8)输出端且活动配合在托板(2)内的球体(9)，且四个电动推杆(8)与活动板(7)固定连接，另一电动推杆(8)固定在底板(1)上侧中心处。

5.如权利要求4所述的一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，托板(2)底面设有与球体(9)相对应的球形槽(10)，且球体(9)活动在球形槽(10)内。

6.如权利要求4所述的一种便于调节的集成电路测试装置，其特征在于，阶梯槽(6)位于底板(1)转角处，阶梯槽(6)包括开设在底板(1)上侧第一槽口(601)、开设在第一槽口(601)底面的第二槽口(602)，且第一槽口(601)的直径小于活动板(7)的直径，活动板(7)的直径小于第二槽口(602)的直径。