[实用新型]微波测试设备

说明书

本实用新型提供一种微波测试设备，包括：微波板卡，主控处理器以及背板。微波板卡包括射频模块以及与射频模块电性连接的接口处理器；主控处理器用于与接口处理器进行数据交互；背板分别与微波板卡和主控处理器电性连接，背板包括：辅助处理器，辅助处理器与主控处理器之间、辅助处理器与接口处理器之间分别通过CPCIE总线进行通信连接；第一射频连接器，第一射频连接器与射频模块电性连接；以及第二射频连接器，第二射频连接器分别与第一射频连接器和主控处理器进行电性连接。本实用新型用以解决现有的微波测试设备难以实现对微波射频硬件进行控制，且难以实现微波信号的完整、高速传输的缺陷。

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种微波测试设备。

背景技术

微波是指频率在300MHz-300GHz之间的电磁波。微波频率比一般的无线电波频率高，通常也称为“超高频电磁波”。微波的基本性质通常呈现为穿透、反射、吸收三个特性。对于玻璃、塑料和瓷器，微波几乎是穿越而不被吸收。对于水和食物等就会吸收微波而使自身发热。而对金属类物品，则会反射微波。

微波测试设备是对工作于微波波段的元器件、天线、馈线、电路、整机、系统、传播媒质及链路的性能与参量的测试设备。虽然现有的微波测试设备具备较高的数字逻辑处理能力，但是难以实现对微波射频硬件进行控制，且难以实现微波信号的完整、高速传输。

实用新型内容

本实用新型提供一种微波测试设备，本实用新型用以解决现有的微波测试设备具备较高的数字逻辑处理能力，但是难以实现对微波射频硬件进行控制，且难以实现微波信号的完整、高速传输的缺陷。

本实用新型提供一种微波测试设备，包括：

微波板卡，包括射频模块以及与所述射频模块电性连接的接口处理器；

主控处理器，用于与所述接口处理器进行数据交互；

背板，分别与所述微波板卡和所述主控处理器电性连接，所述背板包括：

辅助处理器，所述辅助处理器与所述主控处理器之间、所述辅助处理器与所述接口处理器之间分别通过CPCIE总线进行通信连接；以及

第一射频连接器，所述第一射频连接器分别与所述射频模块和所述主控处理器电性连接；

第二射频连接器，所述第二射频连接器分别与所述第一射频连接器和所述主控处理器进行电性连接。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述辅助处理器与所述主控处理器之间、所述辅助处理器与所述接口处理器之间分别通过PCIE总线进行通信连接。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述背板上设有第一PXIE连接器和第二PXIE连接器，所述主控处理器设有与所述第一PXIE连接器电性连接的第三PXIE连接器，所述第三PXIE连接器与所述主控处理器电性连接；所述微波板卡设有与所述第二PXIE连接器电性连接的第四PXIE连接器，所述第四PXIE连接器与所述接口处理器电性连接。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述主控处理器设有用于与第一射频连接器电性连接的第三射频连接器；所述微波板卡设有用于与第二射频连接器电性连接的第四射频连接器；所述第三射频连接器与所述主控处理器电性连接；所述第四射频连接器与所述射频模块电性连接。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述第一射频连接器、所述第二射频连接器、第三射频连接器和第四射频连接器选用VITA射频连接器。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述微波板卡还包括用于对射频模块的信号进行处理的射频信号处理模块，所述射频模块电性连接于所述射频模块与所述接口处理器之间。

根据本实用新型提供的一种微波测试设备，所述射频信号处理模块包括数模转换器、模数转换器、低频发生器中的至少一种。