[实用新型]一种千分尺刻线标定器

说明书

本实用新型涉及一种千分尺刻线标定器；解决现有技术中存在的使用工具显微镜检定，测量结果不直观，对压线、离线容易搞混的问题；标定器具体包括支座、刻线板以及放大件；所述支座包括搭接筒；所述搭接筒上轴向设置有观察孔；所述刻线板安装在所述观察孔内；所述刻线板采用透明玻璃材质，所述刻线板上刻有第一刻度线；所述第一刻度线包括横刻度线以及竖刻度线；所述竖刻度线的范围为0～0.30mm；所述横刻度线的范围为‑0.05～0.30mm；所述横刻度线和竖刻度线中任一相邻刻线之间的宽度均为0.01mm；所述横刻度线的0.08处刻线与0.20处刻线之间、0.20处刻线与0.30处刻线之间、‑0.05处刻线与0.10处刻线之间分别用细线相连；所述放大件同轴安装在观察孔上方。

技术领域

本实用新型涉及精密测量装置，具体涉及一种千分尺刻线标定器及刻线标定方法。

背景技术

依据JJG21-2008《千分尺检定规程》，其受检项目6为：刻线宽度和宽度差；受检项目9为：微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置。

开展受检项目6时，《千分尺检定规程》要求：微分筒刻线宽度为0.08～0.20mm，固定套管上的刻线与微分筒上的刻线宽度差均应不大于0.03mm，带刻度盘的刻线宽度为0.20～0.30mm，其刻线宽度差应不大于0.05mm；同时检定规程中给出的检定方法是：在工具显微镜上检定；微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检3条刻线，此项检定也可采用满足不确定度要求的其他方法。

开展受检项目9时，《千分尺检定规程》要求：当千分尺测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm；同时检定规程中给出的检定方法是：当千分尺测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵向刻线的偏移量。

但在实际工作过程中，按照检定规程给出的检定方法进行操作，不是特别直观，特别对压线、离线容易搞混，影响检定质量。

实用新型内容

本实用新型的目的是解决现有技术中存在的使用工具显微镜检定，测量结果不直观，对压线、离线容易搞混的问题，而提供一种千分尺刻线标定器。

为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：

一种千分尺刻线标定器，其特殊之处在于：

包括支座、刻线板以及放大件；

所述支座包括搭接筒；

所述搭接筒用于与千分尺搭接，所述搭接筒轴向设置有观察孔；所述刻线板安装在所述观察孔内且与观察孔轴线垂直；

所述刻线板采用透明玻璃材质，所述刻线板上刻有第一刻度线；

所述第一刻度线包括用于对千分尺上固定套筒的第二刻度线、刻度盘千分尺的刻度盘上第四刻度线和对千分尺上微分筒的第三刻度线的宽度进行标定的横刻度线以及用于检定微分筒上第三刻度线的零刻线与固定套管第二刻度线偏移量的的竖刻度线；所述竖刻度线的范围为0～0.30mm；所述横刻度线的范围为-0.05～0.30mm；

所述横刻度线和竖刻度线中任一相邻刻线之间的宽度均为0.01mm；

所述横刻度线的0.08处刻线与0.20处刻线之间、0.20处刻线与0.30处刻线之间、-0.05处刻线与0.10处刻线之间分别用细线相连；

所述放大件同轴安装在观察孔上方，用于对第一刻度线、第二刻度线第三刻度线以及第四刻度线进行放大观察。

进一步地，所述放大件为15倍放大镜。

进一步地，所述搭接筒下端开设有侧面开口的插槽；