[实用新型]一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置有效
申请号: | 202123429050.6 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN216718713U | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 罗希勇 | 申请(专利权)人: | 北京圣通和晶科技有限公司 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 北京艾格律诗专利代理有限公司 11924 | 代理人: | 窦杰平 |
地址: | 100089 北京市海淀区凤凰岭路铁路桥*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 闪烁 晶体 探测器 性能 检测 装置 | ||
1.一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,包括避光盒(1),其特征在于:所述避光盒(1)顶部中心设置有中板(101),且中板(101)底面圆柱底端与避光盒(1)内侧底面连接固定,并且中板(101)外边缘与避光盒(1)之间设置有轨迹窗(11),同时轨迹窗(11)内壁两侧均安装有稳定滑轮(12),所述避光盒(1)底部设置有调节机构(2),且调节机构(2)上安装有闪烁晶体线列探测器本体(3),所述中板(101)上固定安装有伺服电机(4),且伺服电机(4)的输出轴顶端焊接固定有主动齿轮(5),并且主动齿轮(5)与顶环(6)内壁啮合连接,所述顶环(6)下端面安装有底滑轮(7),所述顶环(6)顶面通过轴承座安装有调节螺纹杆(8),且调节螺纹杆(8)贯穿活动支架(9)顶端,并且活动支架(9)贯穿定位孔(10)。
2.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述定位孔(10)开设于顶环(6)上,所述活动支架(9)中部贯穿轨迹窗(11),且活动支架(9)底端与底环(13)连接固定,并且底环(13)底部安装有豁免源(14)。
3.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述调节机构(2)包括底螺纹杆(201)、活动座(202)和限位底槽(203),且底螺纹杆(201)通过两端轴承座贯穿安装在避光盒(1)底部,并且底螺纹杆(201)上安装有活动座(202),同时活动座(202)底面与限位底槽(203)内壁贴合,所述限位底槽(203)开设在避光盒(1)内侧底面上,所述活动座(202)顶部安装有闪烁晶体线列探测器本体(3)。
4.根据权利要求3所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述底螺纹杆(201)与活动座(202)为螺纹连接,且活动座(202)与限位底槽(203)为滑动连接,并且活动座(202)中心与底环(13)中心处于同一铅垂线上。
5.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述底滑轮(7)在顶环(6)底面关于活动支架(9)对称分布,且对称分布的所述底滑轮(7)的底端分别与避光盒(1)顶面和中板(101)顶面边缘紧密贴合。
6.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述调节螺纹杆(8)关于活动支架(9)对称分布,且调节螺纹杆(8)与活动支架(9)为螺纹连接,并且活动支架(9)的正视剖面为“T”字型,同时活动支架(9)与定位孔(10)为滑动连接,所述活动支架(9)以中板(101)圆心为中心等角度分布。
7.根据权利要求2所述的一种闪烁晶体线列探测器性能检测装置,其特征在于:所述活动支架(9)底部固定安装有遮光环(901),且遮光环(901)的宽度和顶环(6)的宽度均大于轨迹窗(11)的宽度,并且轨迹窗(11)的内壁等角度水平密集设置有稳定滑轮(12)。
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