[发明专利]阵列基板、显示面板和测试阵列基板的方法在审
申请号: | 202180001922.2 | 申请日: | 2021-07-20 |
公开(公告)号: | CN115956220A | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | 卢红婷;冯佑雄 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 李迎亚;姜春咸 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 显示 面板 测试 方法 | ||
一种阵列基板,包括N个测试信号线,N为大于1的整数;N个第一控制信号线;N个第二控制信号线;M个第一开关晶体管;以及M个第二开关晶体管。第m个第一开关晶体管的第二电极连接至第m个第二开关晶体管的第一电极,1≤m≤M。第n个测试信号线连接到第(kN+n)个第一开关晶体管的第一电极,1≤n≤N,0≤k<M/N。第n个第一控制信号线连接到第(kNsupgt;2/supgt;+((n‑1)*N)+1)个至第(kNsupgt;2/supgt;+n*N)个第一开关晶体管的栅极,0≤kM/N。第n个第二控制信号线连接到第(kN+n)个第二开关晶体管的栅极。第m个第二开关晶体管的第二电极连接到第m个阵列基板信号线。
技术领域
本发明涉及显示技术,尤其涉及一种阵列基板、显示面板和测试阵列基板的方法。
背景技术
通常,在形成有机发光二极管(OLED)器件之后对OLED器件执行老化工艺,以消除亮点并提高晶体管稳定性。
发明内容
在一个方面,本公开提供了一种阵列基板,包括:N个测试信号线,N为大于1的整数;N个第一控制信号线;N个第二控制信号线;M个第一开关晶体管,M是大于N的整数;以及M个第二开关晶体管;其中,第m个第一开关晶体管的第二电极连接至第m个第二开关晶体管的第一电极,1≤m≤M;第n个测试信号线连接到第(kN+n)个第一开关晶体管的第一电极,1≤n≤N,0≤k<M/N;第n个第一控制信号线连接到第(kN2+((n-1)*N)+1)个至第(kN2+n*N)个第一开关晶体管的栅极,0≤kM/N;第n个第二控制信号线连接到第(kN+n)个第二开关晶体管的栅极;以及第m个第二开关晶体管的第二电极连接到第m个阵列基板信号线。
可选地,M是N的整数倍。
可选地,N是阵列基板中的不同颜色的子像素的总数,所述阵列基板包括分别连接到所述M个第二开关晶体管的第二电极的M个阵列基板信号线。
可选地,N=3。
可选地,所述阵列基板包括:第一个第一控制信号线、第二个第一控制信号线和第三个第一控制信号线;第一个第二控制信号线、第二个第二控制信号线和第三个第二控制信号线;第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线;第一个第一开关晶体管、第二个第一开关晶体管、第三个第一开关晶体管、第四个第一开关晶体管、第五个第一开关晶体管、第六个第一开关晶体管、第七个第一开关晶体管、第八个第一开关晶体管和第九个第一开关晶体管;以及第一个第二开关晶体管、第二个第二开关晶体管、第三个第二开关晶体管、第四个第二开关晶体管、第五个第二开关晶体管、第六个第二开关晶体管、第七个第二开关晶体管、第八个第二开关晶体管和第九个第二开关晶体管;其中,所述第一测试信号线连接至所述第一个第一开关晶体管、所述第四个第一开关晶体管和所述第七个第一开关晶体管的第一电极;所述第二测试信号线连接至所述第二个第一开关晶体管、所述第五个第一开关晶体管和所述第八个第一开关晶体管的第一电极;所述第三测试信号线连接至所述第三个第一开关晶体管、所述第六个第一开关晶体管和所述第九个第一开关晶体管的第一电极;所述第一个第一控制信号线连接至所述第一个第一开关晶体管、所述第二个第一开关晶体管和所述第三个第一开关晶体管的栅极;所述第二个第一控制信号线连接至所述第四个第一开关晶体管、所述第五个第一开关晶体管和所述第六个第一开关晶体管的栅极;所述第三个第一控制信号线连接至所述第七个第一开关晶体管、所述第八个第一开关晶体管和所述第九个第一开关晶体管的栅极;所述第一个第二控制信号线连接至所述第一个第二开关晶体管、所述第四个第二开关晶体管和所述第七个第二开关晶体管的栅极;所述第二个第二控制信号线连接至所述第二个第二开关晶体管、所述第五个第二开关晶体管和所述第八个第二开关晶体管的栅极;以及所述第三个第二控制信号线连接至所述第三个第二开关晶体管、所述第六个第二开关晶体管和所述第九个第二开关晶体管的栅极。
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