[发明专利]估计来自未知源的背景辐射在审
申请号: | 202180002497.9 | 申请日: | 2021-08-04 |
公开(公告)号: | CN114365196A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 孙明山;J·斯达-拉克;K·霍尔特 | 申请(专利权)人: | 万睿视影像有限公司 |
主分类号: | G06T17/20 | 分类号: | G06T17/20;G06T11/00;G06T5/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李春辉 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 估计 来自 未知 背景 辐射 | ||
实施方案包括一种方法,包括:接收从辐射检测器获得的所测量的辐射,所述辐射检测器接收穿过对象的辐射;模拟从所述辐射检测器获得的所测量的辐射,所述辐射检测器接收穿过所述对象的辐射;基于所测量的辐射和所模拟的测量辐射来生成偏移;基于所述偏移来估计散射辐射;以及基于所估计的散射辐射来估计主要辐射。
背景技术
除非本文另有指示,否则本部分中描述的方法不是本公开中的权利要求的现有技术,并且不通过包括在本部分中而被承认是现有技术。
一些x射线成像可以使用宽区域锥形束。x射线检测器可以检测主辐射和散射辐射两者。散射辐射可在图像或重建中引入伪影。
附图说明
图1是根据一些实施方案的成像系统的框图。
图2A-图2B是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术的流程图。
图3是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的增益估计的流程图。
图4是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的多遍增益估计的流程图。
图5是根据一些实施方案的在具有散射校正的图像处理技术中使用感兴趣区域的多遍增益估计的流程图。
图6是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的偏移估计的流程图。
图7是根据一些其他实施方案的具有散射校正的图像处理技术中跨子区域的偏移估计的流程图。
图8A示出了所测量的辐射图像Im。
图8B示出了所模拟的主要辐射图像Jp。
图8C示出了所模拟的散射辐射图像Js。
图9A示出了所测量的辐射图像Im与所模拟的辐射图像Jtot的第一遍二阶多项式拟合的散点图。
图9B示出了所测量的辐射图像Im与排除离群值的所模拟的辐射图像Jtot的第二遍二阶多项式拟合的散点图。
图10示出了列向量的曲线图。
图11A示出了偏移图像。
图11B示出了经平滑的偏移图像。
图12A示出了没有背景或外部散射校正的重建图像。
图12B示出了具有背景或外部散射校正的重建图像。
图13是根据一些其他实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的增益估计的流程图。
图14是根据一些其他实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的偏移估计的流程图。
图15是根据一些实施方案的具有散射校正的图像处理技术中的增益和偏移估计的流程图。
图16A示出了所测量的辐射图像Im。
图16B示出了所模拟的主要辐射图像Jp。
图16C示出了所模拟的散射辐射图像Js。
图17示出了归一化的测量辐射图像Im与所模拟的测量辐射图像Jtot的散点图或曲线图。
图18A示出了所测量的辐射图像。
图18B示出了在偏移计算中使用的像素。
图18C示出了在增益计算中使用的像素。
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