[发明专利]用于利用读取或检测尺寸或形状的表面扫描的机器或电/电子扫描系统检测连接器位置保证(CPA)装置相对于壳体的闭合的验证系统或验证方法在审

专利信息
申请号: 202180005526.7 申请日: 2021-10-01
公开(公告)号: CN116018729A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: D·德马拉托斯 申请(专利权)人: J.S.T.公司
主分类号: H01R13/641 分类号: H01R13/641
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 利用 读取 检测 尺寸 形状 表面 扫描 机器 电子扫描 系统 连接器 位置 保证 cpa
【权利要求书】:

1.一种用于检测连接器位置保证(CPA)装置相对于壳体的闭合的验证系统,其特征在于:

连接器位置保证(CPA)装置,其具有第一可见或可视表面;

壳体,其具有第二可见或可视表面;以及

扫描系统,其扫描所述CPA装置的所述第一可见或可视表面和所述壳体的所述第二可见或可视表面,其中,所述扫描系统根据所述扫描系统是否检测到所述第一可见或可视表面和所述第二可见或可视表面是彼此分离还是接合在一起来检测所述CPA装置是否相对于所述壳体处于完全锁定位置。

2.根据权利要求1所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统在检测到所述第一可见或可视表面和所述第二可见或可视表面彼此分离时,检测出所述CPA装置相对于所述壳体处于预锁定位置。

3.根据权利要求2所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统在检测到所述第一可见或可视表面和所述第二可见或可视表面接合在一起时,检测出所述CPA装置相对于所述壳体处于完全锁定位置。

4.根据权利要求3所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统将所述第一可见或可视表面作为第一介质进行检测,并且其中所述扫描系统将所述第二可见或可视表面作为第二介质进行检测。

5.根据权利要求1所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统是机器或电/电子扫描系统。

6.根据权利要求4所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统将扫描窗口定向至所述第一介质和所述第二介质中的至少一者,其中,当所述扫描系统检测到所述第一介质和所述第二介质中的至少一者在所述扫描窗口内低于百分比阈值时,所述扫描系统检测出所述CPA装置相对于所述壳体处于预锁定位置。

7.根据权利要求4所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述扫描系统将扫描窗口定向至所述第一介质和所述第二介质中的至少一者,其中,当所述扫描系统检测到所述第一介质和所述第二介质中的至少一者在所述扫描窗口内处于或高于百分比阈值时,所述扫描系统检测出所述CPA装置相对于所述壳体处于完全锁定位置。

8.根据权利要求4所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,当所述扫描系统检测到所述第一介质和所述第二介质中的至少一者在所述扫描窗口内的百分比为零时,所述扫描系统检测出所述CPA装置相对于所述壳体处于预锁定位置。

9.根据权利要求6所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述CPA装置的所述第一介质是UV涂层、反射涂层、移印、激光蚀刻和雕刻中的一种。

10.根据权利要求7所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述CPA装置的所述第一介质是UV涂层、反射涂层、移印、激光蚀刻和雕刻中的一种。

11.根据权利要求9所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述壳体的所述第二介质是UV、反射物质和特定颜色中的一种。

12.根据权利要求10所述的用于检测所述CPA装置相对于所述壳体的闭合的验证系统,其特征在于,所述壳体的所述第二介质是UV、反射物质和特定颜色中的一种。

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