[发明专利]光电传感器及阈值校正方法在审
申请号: | 202180013049.9 | 申请日: | 2021-02-04 |
公开(公告)号: | CN115053456A | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 谷末光平;饭田雄介;蓬郷典大 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | H03K17/78 | 分类号: | H03K17/78;G01J1/42;G01J1/44;H01H35/00;G01V8/12 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 闫洁;刘芳 |
地址: | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 传感器 阈值 校正 方法 | ||
1.一种光电传感器,对对象物进行检测,且所述光电传感器包括:
光接收部,接收光而获得光接收量;
对象物判定部,基于所述光接收量与阈值,来判定有无所述对象物;以及
设定部,基于判定为有所述对象物的期间的所述光接收量、与判定为无所述对象物的期间的所述光接收量,来设定所述阈值。
2.根据权利要求1所述的光电传感器,其中,
所述设定部基于判定为有所述对象物的期间中的光接收量的最大及最小的一个、与判定为无所述对象物的期间中的光接收量的最大及最小的另一个,来算出校正值,并将所述校正值设定为所述阈值。
3.根据权利要求1所述的光电传感器,其中,
所述设定部基于判定为有所述对象物的期间中的光接收量的均值、与判定为无所述对象物的期间中的光接收量的均值,来算出校正值,并将所述校正值设定为所述阈值。
4.根据权利要求1所述的光电传感器,其中,
所述设定部根据基于判定为有所述对象物的期间的光接收量的分布中的均值及方差所得的值、与基于判定为无所述对象物的期间的光接收量的分布中的均值及方差所得的值,来算出校正值,并将所述校正值设定为所述阈值。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光电传感器,还包括设定判定部,
所述设定判定部基于判定为有所述对象物的期间的光接收量、与判定为无所述对象物的期间的光接收量,来判定是否能够设定所述阈值,
所述设定部在判定为能够设定所述阈值时,对所述阈值进行设定。
6.根据权利要求5所述的光电传感器,其中,
所述设定判定部基于判定为有所述对象物的期间中的光接收量的最大及最小的一个、与判定为无所述对象物的期间中的光接收量的最大及最小的另一个之差,来判定是否能够设定所述阈值。
7.根据权利要求5所述的光电传感器,其中,
所述设定判定部根据基于判定为有所述对象物的期间的光接收量的分布中的均值及方差所得的值、与基于判定为无所述对象物的期间的光接收量的分布中的均值及方差所得的值之差,来判定是否能够设定所述阈值。
8.根据权利要求5至7中任一项所述的光电传感器,还包括输出部,
所述输出部在判定为无法设定所述阈值时,输出无法设定所述阈值。
9.一种阈值设定方法,为对对象物进行检测的光电传感器的阈值设定方法,且包括:
光接收工序,接收光而获得光接收量;
对象物判定工序,基于所述光接收量与阈值,来判定有无所述对象物;以及
设定工序,基于判定为有所述对象物的期间的所述光接收量、与判定为无所述对象物的期间的所述光接收量,来设定所述阈值。
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