[发明专利]分析光学脉冲运行时间方法中的反向散射直方图数据的方法和用于数据处理的设备

权利要求书

1.一种用于分析光学脉冲运行时间方法中的反向散射直方图数据的方法(20,30,40,50)，包括：

接收(21,31,41,51)反向散射直方图数据；以及

分析(22,32,42,52)接收到的反向散射直方图数据。

2.根据权利要求1所述的方法(20,30,40,50)，其中，分析接收到的反向散射直方图数据包括：

计算(23,53)接收到的反向散射直方图数据与预定参考反向散射信号之间的相似性度量，以确定反向散射信号。

3.根据权利要求1或2所述的方法(20,30,40,50)，其中，分析接收到的反向散射直方图数据包括：

根据接收到的反向散射直方图数据确定(33,43,54)环境光量。

4.根据引用权利要求2时的权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，分析接收到的反向散射直方图数据包括：

基于所述反向散射信号和所述环境光量来确定(55)光学运行时间测量的有效检测范围。

5.根据权利要求2所述的方法(20,30,40,50)，其中，将变换函数应用(24)于所述反向散射信号，以确定信号阻尼因子。

6.根据权利要求5所述的方法(20,30,40,50)，其中，通过实验确定(25)所述变换函数。

7.根据权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据接收到的位于开始时间之前的多个时间段的反向散射直方图数据计算(34)算术平均值，以确定所述环境光量。

8.根据权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据接收到的超过特定时间阈值的多个时间段的反向散射直方图数据计算(35)算术平均值，以确定所述环境光量。

9.根据权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据接收到的位于开始时间之前的多个时间段的反向散射直方图数据以及根据接收到的超过特定时间阈值的多个时间段的反向散射直方图数据计算(36)算术平均值，以确定所述环境光量。

10.根据权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据接收到的超过特定时间阈值的反向散射直方图数据确定(44)满足特定标准的局部最小值，以确定所述环境光量。

11.根据权利要求3所述的方法(20,30,40,50)，其中，确定所述环境光量包括：

根据接收到的位于开始时间之前的多个时间段的反向散射直方图数据计算算术平均值，以获得第一环境光量；

根据接收到的超过特定时间阈值的反向散射直方图数据确定满足特定标准的局部最小值，以获得第二环境光量；以及

根据比较所述第一环境光量与所述第二环境光量来确定所述环境光量，其中，将所述环境光量确定(45)为所述第一环境光量与所述第二环境光量中的较小者。

12.根据权利要求4所述的方法(20,30,40,50)，其中，借助预定义函数确定(56)所述光学运行时间测量的有效检测范围。

13.根据权利要求4所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据特性图确定(57)所述光学运行时间测量的有效检测范围。

14.根据权利要求4所述的方法(20,30,40,50)，其中，根据与预定参考值进行比较来确定(58)所述光学运行时间测量的有效检测范围。

15.一种用于数据处理的设备(3)，包括用于实施根据前述权利要求中任一项所述的方法的装置。