[发明专利]检查装置、层叠电极体的制造装置及检查方法在审
申请号: | 202180014036.3 | 申请日: | 2021-02-04 |
公开(公告)号: | CN115088110A | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
发明(设计)人: | 八木晴久;阿部龙太;正田达也 | 申请(专利权)人: | 松下控股株式会社 |
主分类号: | H01M10/04 | 分类号: | H01M10/04;H01M10/0585 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王亚爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 装置 层叠 电极 制造 方法 | ||
1.一种检查装置,是从间隔件侧检查所述间隔件及电极板通过粘接剂粘接着的层叠体中的所述电极板的位置的检查装置,包括:
红外线照射部,从所述间隔件侧向所述层叠体照射峰值波长处于6.5μm以上9.6μm以下的范围的红外线;
照相机,在所述红外线的波长区域具有灵敏度,拍摄透过所述间隔件而在所述电极板反射的所述红外线;
检测部,根据由所述照相机拍摄的图像,检测所述电极板的位置。
2.根据权利要求1所述的检查装置,
所述红外线照射部具有红外线照射面,
所述红外线照射面具有贯通孔,
从所述红外线照射部和所述照相机排列的第一方向观察,所述红外线照射部及所述照相机以所述贯通孔与所述照相机的光轴重叠的方式配置。
3.根据权利要求1或2所述的检查装置,
所述红外线照射部具有红外线照射面,所述红外线照射面包括以规定的第一入射角度使红外线入射所述层叠体的第一照射区域、以及以不同于所述第一入射角度的第二入射角度使红外线入射所述层叠体的第二照射区域。
4.根据权利要求3所述的检查装置,
所述红外线照射部具有抛物线形状的红外线照射面。
5.根据权利要求1至4的任一项所述的检查装置,
所述红外线照射部具有中心轴相对于所述层叠体的法线倾斜的红外线照射面,
所述照相机以光轴相对于所述法线倾斜的方式配置。
6.根据权利要求1至5的任一项所述的检查装置,
所述照相机被配置在所述红外线的光路上、所述红外线照射部与所述层叠体之间,
所述红外线照射部具有从所述照相机与所述红外线照射部排列的第一方向观察,向所述照相机的外侧扩展的红外线照射面。
7.一种层叠电极体的制造装置,包括:
层叠台,层叠间隔件及电极板通过粘接剂粘接着的层叠体,
传输部,传输所述层叠体,放出到所述层叠台上,以及
权利要求1至6的任一项所述的检查装置,检查从所述传输部放出的所述层叠体中的所述电极板的位置;
重叠所述层叠体,制造层叠电极体。
8.一种检查方法,是从间隔件侧检查所述间隔件及电极板通过粘接剂粘接着的层叠体中的所述电极板的位置的检查方法,包括:
从所述间隔件侧向所述层叠体照射峰值波长处于6.5μm以上9.6μm以下的范围的红外线,
通过在所述红外线的波长区域具有灵敏度的照相机,拍摄透过所述间隔件被所述电极板反射的所述红外线,
根据由所述照相机拍摄的图像,检测所述电极板的位置。
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