[发明专利]光检测元件

权利要求书

1.一种光检测元件，其具备阳极、阴极、以及设于该阳极与该阴极之间且包含p型半导体材料和n型半导体材料的有源层，

设从所述n型半导体材料的HOMO的能级的绝对值减去所述p型半导体材料的HOMO的能级的绝对值而得到的值为ΔEA、从所述n型半导体材料的LUMO的能级的绝对值减去所述p型半导体材料的LUMO的能级的绝对值而得到的值为ΔEB，ΔEA与ΔEB之和的值即ΔEA+ΔEB为大于0且小于0.88的范围。

2.如权利要求1所述的光检测元件，其中，所述和的值ΔEA+ΔEB为0.20～0.67的范围。

3.如权利要求1或2所述的光检测元件，其中，所述p型半导体材料为包含下式(I)所表示的结构单元的高分子化合物，

[化1]

式(I)中，Ar¹和Ar²表示具有或不具有取代基的3价芳香族杂环基或者具有或不具有取代基的3价芳香族碳环基，Z表示下述式(Z-1)～式(Z-7)所表示的基团，

[化2]

式(Z-1)～(Z-7)中，

R各自独立地表示：

氢原子、

卤原子、

具有或不具有取代基的烷基、

具有或不具有取代基的芳基、

具有或不具有取代基的环烷基、

具有或不具有取代基的烷氧基、

具有或不具有取代基的环烷氧基、

具有或不具有取代基的芳氧基、

具有或不具有取代基的烷硫基、

具有或不具有取代基的环烷硫基、

具有或不具有取代基的芳硫基、

具有或不具有取代基的1价杂环基、

具有或不具有取代基的取代氨基、

具有或不具有取代基的亚胺残基、

具有或不具有取代基的酰胺基、

具有或不具有取代基的酰亚胺基、

具有或不具有取代基的取代氧基羰基、

具有或不具有取代基的烯基、

具有或不具有取代基的环烯基、

具有或不具有取代基的炔基、

具有或不具有取代基的环炔基、

氰基、

硝基、

-C(＝O)-R^a所表示的基团、或者

-SO₂-R^b所表示的基团，

R^a和R^b各自独立地表示：

氢原子、

具有或不具有取代基的烷基、

具有或不具有取代基的芳基、

具有或不具有取代基的烷氧基、

具有或不具有取代基的芳氧基、或者

具有或不具有取代基的1价杂环基，

式(Z-1)～式(Z-7)中，R存在2个的情况下，2个R相同或不同。

4.如权利要求1～3中任一项所述的光检测元件，其中，所述p型半导体材料为包含下式(II)或下式(III)所表示的结构单元的高分子化合物，

[化3]

式(II)和式(III)中，Ar¹、Ar²和R如上述所定义。

5.如权利要求4所述的光检测元件，其中，所述p型半导体材料为包含下式(IV)所表示的结构单元的高分子化合物，

[化4]

式(IV)中，

X¹和X²各自独立地为硫原子或氧原子，

Z¹和Z²各自独立地为＝C(R)-所表示的基团或氮原子，R如上述所定义。

6.如权利要求5所述的光检测元件，其中，所述式(IV)中，X¹和X²为硫原子，Z¹和Z²为＝C(R)-所表示的基团。