[发明专利]透镜及光学系统装置在审

专利信息
申请号: 202180025345.0 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN115398302A 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 绳田晃史;田中觉 申请(专利权)人: SCIVAX株式会社
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G01J1/00;G01M11/00;G02B3/02;G02B13/18
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟;李磊
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 透镜 光学系统 装置
【说明书】:

本发明的目的在于提供一种能够以简单的结构测量光源或光学元件的光学特性的透镜及光学系统装置。透镜(1)具有光轴且包含入射面(F)和出射面(B),入射面(F)和出射面(B)形成为,使从第1位置(O)相对于光轴以照射角度(θ)入射至入射面(F)的光,通过入射面(F)和出射面(B)的折射而以相对于光轴的出射角度θ/m(m>1)从出射面(B)出射,并且从出射面(B)出射的光的视位置全部从第2位置(P)起始。另外,光学系统装置包括该透镜(1)、以及使从透镜(1)出射的光扩散的扩散板。

技术领域

本发明涉及一种透镜及使用该透镜的光学系统装置。

背景技术

近年来,光源使用LED等发光元件。另外,为了控制各种光源的光,还开发了微透镜阵列(MLA)、衍射光学元件(DOE)等光学元件。这样的发光元件或光学元件需要评价其取向等光学特性。

作为该评价方法,例如有用测角仪使光源或拍摄部旋转并用传感器测量该角度上的光度的方法。在这种情况下,测量本身比较容易,但存在如下问题:由于测量本身以点进行,所以获取1个配光数据需要花费很长的时间。另外,还存在测角仪的价格很高的问题(例如专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2016-151438

发明内容

因此,考虑如下方法:使从发光元件或光学元件照射的光射到可视化板来观察其取向的状况。在这种情况下,能够在短时间内测量1个取向数据,但存在如下问题:能够射到可视化板的配光角度有限界,无法测量配光角度较大的光。

因此,本发明的目的在于提供一种透镜及光学系统装置,能够以简单的结构测量光源或光学元件的光学特性。

本发明的透镜,其具有光轴,包含入射面和出射面,所述透镜的特征在于:所述入射面和所述出射面形成为,使从第1位置相对于所述光轴以照射角度θ入射至所述入射面的光,通过所述入射面和所述出射面的折射而以相对于所述光轴的出射角度θ/m(m>1)从出射面出射,并且从所述出射面出射的光的视位置全部从第2位置起始。

在这种情况下,所述入射面是如下形状:使从所述第1位置以所述照射角度θ入射的光照射于从所述第2位置以角度θ/m的方向与所述出射面的交点的方式折射,所述出射面是如下形状:使从所述第1位置经由所述入射面照射来的光向所述出射角度θ/m的方向折射。

另外,m能够设为大于1的任意的值,优选m≥2更佳。具体而言,如果设为m=2,则能够使出射角度为入射角度的一半。

另外,本发明的光学系统装置,其特征在于,包括:透镜,其形成为,使从第1位置相对于光轴以照射角度θ入射的光,以相对于所述光轴的出射角度θ/m(m>1)出射,并且出射的光的视位置全部从第2位置起始;以及扩散板,其使从所述透镜出射的光扩散。

在这种情况下,也可以是,具有仅使特定波长的光透过的波长选择滤光片。

另外,也可以是,具有检测来自所述扩散板的光的拍摄元件。

另外,也可以是,具有调节光入射至所述拍摄元件的时间的电子快门。

另外,也可以是,具有基于所述拍摄元件检测出的光的信息计算取向特性的运算单元。

另外,也可以是,具有显示所述拍摄元件检测出的光的取向特性的显示装置。

另外,也可以是,具有防反射部件,该防反射部件在所述扩散板的周围与所述透镜的光轴平行地配置,吸收从所述扩散板入射的光。

另外,也可以是,具有将光照射于所述第1位置的光源。

另外,也可以是,具有用于使所述光源的光成像而照射于所述第1位置的成像透镜。

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