[发明专利]用于光纤的熔接系统、熔接机、模型制作装置以及熔接光纤的方法在审
申请号: | 202180027320.4 | 申请日: | 2021-04-12 |
公开(公告)号: | CN115362399A | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 大木一芳;铃木贵弘;游佐英明 | 申请(专利权)人: | 住友电工光学前沿株式会社 |
主分类号: | G02B6/255 | 分类号: | G02B6/255 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 吕琳;朴秀玉 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光纤 熔接 系统 模型 制作 装置 以及 方法 | ||
1.一种用于光纤的熔接系统,具备:
模型制作装置,使用表示从光纤的拍摄数据得到的特征量与所述光纤的种类的对应关系的样本数据来进行机器学习,制作用于基于要连接的光纤的拍摄数据来判别所述要连接的光纤的种类的判别模型;以及
多个熔接机,所述熔接机具有对一对光纤进行拍摄来生成拍摄数据的拍摄部、将从由所述拍摄部提供的拍摄数据得到的特征量输入至所述判别模型来判别所述一对光纤各自的种类的判别部以及基于所述判别部的判别结果在与所述一对光纤的种类的组合相应的连接条件下将所述一对光纤相互熔接的连接部,
所述模型制作装置将所述多个熔接机分类为被推定为拍摄数据的倾向类似的两个以上的组并按每个组收集所述样本数据来制作所述判别模型,
各熔接机的所述判别部使用与所述各熔接机所属的所述组对应的所述判别模型来判别所述一对光纤各自的种类。
2.根据权利要求1所述的熔接系统,其中,
所述机器学习是深度学习。
3.根据权利要求1或2所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的检查的条件和各熔接机的检查的结果中的至少一个的类似性被分类的。
4.根据权利要求3所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于通过所述拍摄部对检查各熔接机时作为基准的光纤进行拍摄而得到的拍摄数据的类似性被分类的。
5.根据权利要求4所述的熔接系统,其中,
所述拍摄数据的类似性包括根据所述作为基准的光纤的径向上的亮度信息求出的特征量的类似性。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于通过所述拍摄部对检查各熔接机时作为基准的光纤进行了拍摄时的环境条件的类似性被分类的。
7.根据权利要求6所述的熔接系统,其中,
所述环境条件包括温度、湿度以及气压中的至少一个。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的制造者和制造日期时间中的至少一个的类似性被分类的。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的所述拍摄部的制造者和制造日期时间中的至少一个的类似性被分类的。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的观察用光学部的制造者和制造日期时间中的至少一个的类似性被分类的。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的使用场所的环境条件的类似性被分类的。
12.根据权利要求11所述的熔接系统,其中,
所述环境条件包括温度、湿度以及气压中的至少一个。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机的劣化状态的类似性被分类的。
14.根据权利要求13所述的熔接系统,其中,
所述劣化状态包括从制造日起的经过时间、使用时间、放电次数、连接频度、放电电极的污浊情况、从所述拍摄部的相反侧对所述一对光纤进行照明的光源的调光状态、所述拍摄部的观察用光学部的污浊情况以及设备诊断结果中的至少一个。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的熔接系统,其中,
所述两个以上的组是基于各熔接机中被作为连接对象的光纤的种类的类似性被分类的。
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