[发明专利]存储器内置装置、处理方法、参数设置方法以及图像传感器装置

说明书

具有内置存储器的该装置包括：处理器；存储器访问控制器；以及存储器，存储器将由存储器访问控制器根据进程而访问，其中存储器访问控制器被配置为根据参数的指定从存储器读取将要在卷积运算电路的操作中使用的数据以及将要在卷积运算电路的操作中使用的数据写入存储器。

技术领域

本公开涉及存储器内置装置、处理方法、参数设置方法以及图像传感器装置。

背景技术

在诸如神经网络的AI技术中，因为执行大量的计算，对存储器的访问增加。例如，提供了用于访问N维张量的技术(专利文献1)。

引用列表

专利文献

专利文献1：JP 2017-138964 A。

发明内容

技术问题

根据现有技术，通过准备仅执行对应于地址计算(生成)和地址计算的命令的专用硬件，处理的一部分被卸载到硬件。

但是，在上述现有技术中，地址计算需要CPU每次下发专用命令，因此存在改进的空间。因此，希望实现对存储器的适当访问。

因此，本公开提出了能够实现对存储器的适当访问的存储器内置装置、处理方法、参数设置方法以及图像传感器装置。

问题的解决方案

根据本公开，存储器内置装置包括：处理器；存储器访问控制器；以及存储器，将由存储器访问控制器根据处理而访问，其中存储器访问控制器被配置为根据参数的指定，从存储器读取将要在卷积运算电路的运算中使用的数据以及将要在卷积运算电路的运算中使用的数据写入存储器。

附图说明

图1为示出本公开的处理系统的一个实例的示图。

图2是示出存储器的层级结构的示例的示图。

图3是示出用于卷积运算的维度的实例的示图。

图4是示出卷积处理的概念图。

图5是示出在高速缓冲存储器中存储张量数据的示例的示图。

图6是示出卷积运算程序及其抽象的实例的示图。

图7是示出当访问张量的元素时的地址计算的实例的示图。

图8是根据第一实施方式的概念图。

图9是示出根据第一实施方式的处理的实例的示图。

图10是示出根据第一实施方式的处理的实例的示图。

图11是示出根据第一实施方式的处理的过程的流程图。

图12是示出根据第一实施方式的存储器访问的实例的示图。

图13是示出根据第一实施方式的变形例的示图。

图14是示出高速缓冲行的配置的实例的示图。

图15是示出关于高速缓冲行的命中确定的实例的示图。

图16是示出在执行CNN处理的情况下的初始设置的实例的示图。

图17A是示出根据第二实施方式的地址生成的实例的示图。

图17B是示出根据第二实施方式的地址生成的实例的示图。

图18是示出存储器访问控制器的示例的示图。

图19是示出根据第二实施方式的处理的过程的流程图。

图20是示出根据第二实施方式的处理的实例的示图。