[发明专利]水质分析仪和水质分析方法

说明书

校正运算部(102)基于由吸光度计算部(101)计算出的各波长下的吸光度，使用校正式进行运算，由此进行吸光度的校正。浊度成分检测处理部(103)使浊度标准溶液被供给到氧化反应部，使测定光从光源(51)照射到氧化反应后的浊度标准溶液，由此利用检测器(52)检测通过了浊度标准溶液后的测定光的多个波长下的强度。校正系数更新处理部(104)使得吸光度计算部(101)基于由浊度成分检测处理部(103)检测出的多个波长下的强度来计算各波长下的吸光度，并基于计算出的各波长下的吸光度，更新存储部(200)中存储的校正系数。

技术领域

本发明涉及一种能够测定试样水中的总氮浓度的水质分析仪和水质分析方法。

背景技术

例如，在总氮总磷分析仪等水质分析仪中具备使试样水中的成分发生氧化反应的反应器。反应器中的氧化反应后的试样水被供给到测定单元，从光源对测定单元内的试样水照射测定光。利用检测器检测通过了测定单元内的试样水后的测定光，基于该检测器中的检测强度来计算试样水中的目标成分的吸光度(例如，参照下述专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2016-80441号公报

发明内容

发明要解决的问题

在试样水中含有浊度成分的情况下，不仅目标成分(例如氮氧化物)会吸光，还产生浊度成分的吸光，因此无法准确地计算目标成分的吸光度。因此，想到了通过使用校正式进行运算来进行吸光度的校正从而去除浊度成分的吸光的影响。

例如想到了：基于与试样水中的总氮对应的测定用波长下的检测强度以及与浊度成分对应的浊度校正用波长下的检测强度来计算各波长下的吸光度，并将这些吸光度作为变量代入校正式，由此进行运算。在该情况下，使用通过实验预先求出的常数来作为上述校正式所包含的校正系数。

由于如上所述的校正系数是通过实验求出的常数，因此通常无需频繁地变更。但是，发明人从设定更适当的校正系数的观点出发进行了深入研究后，得到了以下见解。

首先，在使含有浊度成分的试样水在反应器中发生氧化反应的情况下，浊度成分的形态可能发生变化。具体地说，认为：由于浊度成分的粒径会伴随氧化反应发生变化，取决于粒径的吸光度也会发生变化。在该情况下，如果不根据浊度成分的粒径的变化量变更校正系数，则存在校正后的吸光度产生误差的担忧。

另外，在氧化反应中使用的氧化剂的分解量可能受到浊度成分的影响。具体地说，认为：在试样水含有浊度成分的情况下，浊度成分会阻碍氧化剂的分解，由此氧化反应后的氧化剂的残留量变多。过氧化二硫酸钾等氧化剂对于测定用波长具有吸收性，因此在这种氧化剂的残留量变多的情况下，存在测定用波长下的吸光度变大的担忧。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种在测定含有浊度成分的试样水中的总氮浓度时能够适当地校正吸光度的水质分析仪和水质分析方法。

用于解决问题的方案