[发明专利]位置检测装置在审

专利信息
申请号: 202180046704.0 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN115735097A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 杉本拓也;中村大佐;伊藤吉博 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 董婷婷
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 装置
【说明书】:

磁传感器(7)能够对在光学反射元件旋转时进行相对移动的位置检测用磁体(6)所施加的磁场进行检测。位置检测用磁体(6)能够因光学反射元件的旋转而通过基准位置(B),该基准位置(B)为从旋转轴(C)的轴向观察下旋转轴(C)、磁传感器(7)的中心(7c)、位置检测用磁体(6)的中心(6c)排列于直线上时的位置。磁传感器(7)配置于包含穿过位于基准位置(B)的位置检测用磁体(6)的中心(6c)的磁化方向(M)、以及旋转轴(C)的轴向的XZ平面内。

技术领域

本发明涉及位置检测装置。

背景技术

作为公开了位置检测装置的构成的现有文献,存在美国专利申请公开第2018/0188476号说明书(专利文献1)。专利文献1所记载的位置检测装置具备:固定部、可动部、光学元件、位置检测用磁体、以及磁传感器。可动部可移动地与固定部连接。光学元件配置于可动部上。位置检测用磁体与光学元件对应,具有磁化方向。磁传感器与位置检测用磁体对应,检测位置检测用磁体绕与固定部相关的轴的旋转。上述轴与位置检测用磁体的磁化方向正交。

专利文献1:美国专利申请公开第2018/0188476号说明书

发明内容

发明所要解决的课题

在专利文献1所记载的位置检测装置中,存在能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度的余地。

本发明就是鉴于上述问题点而提出的,其目的在于提供一种能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度的位置检测装置。

解决课题的技术手段

基于本发明的位置检测装置具备光学反射元件、位置检测用磁体和磁传感器。光学反射元件设置为能够以旋转轴为中心旋转。位置检测用磁体设置在光学反射元件上。位置检测用磁体的磁化方向与上述旋转轴的轴向平行。磁传感器被固定配置。磁传感器能够对在光学反射元件旋转时进行相对移动的位置检测用磁体所施加的磁场进行检测。位置检测用磁体能够由于光学反射元件的旋转而通过基准位置,该基准位置为从上述轴向观察下上述旋转轴、磁传感器的中心、位置检测用磁体的中心排列于一直线上时的位置。磁传感器配置于包含穿过位于上述基准位置的位置检测用磁体的中心的上述磁化方向、以及上述轴向的平面内。

发明的效果

根据本发明,能够以简单的构成优化位置检测范围及位置检测精度。

附图说明

图1是表示包含本发明的一个实施方式所涉及的位置检测装置的紧凑型相机模块的构成的侧视图。

图2是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向一个方向旋转后的状态的图。

图3是表示图1的紧凑型相机模块中光学反射元件以旋转轴为中心向另一方向旋转后的状态的图。

图4是将图1的紧凑型相机模块中的位置检测装置的构成放大表示的侧视图。

图5是从旋转轴的轴向观察本发明的一个实施方式所涉及的位置检测装置中的、位置检测用磁体与磁传感器之间的位置关系而示出的图。

图6是表示本发明的一个实施方式所涉及的位置检测装置具备的磁传感器的构成的图。

图7是表示本发明的一个实施方式所涉及的位置检测装置具备的磁传感器的电路结构的图。

图8是放大表示图6的VIII部的立体图。

图9是从图8的IX-IX线箭头方向观察的截面图。

图10是表示实验例的结果的曲线图。

图11是用于说明磁传感器的输出的误差率的曲线图。

图12是表示在实验例所涉及的磁传感器的检测角的测量预定范围内、与磁传感器的输出的所需的线性误差率对应而旋转角和L1/L2可取的范围的曲线图。

具体实施方式

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