[发明专利]图像处理装置和测距装置在审
申请号: | 202180046863.0 | 申请日: | 2021-06-02 |
公开(公告)号: | CN115735134A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
发明(设计)人: | 冈田浩希;高山喜央 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 装置 测距 | ||
1.一种图像处理装置,其中,具有:
反射强度信息获取部,根据向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波即照射波被所述对象反射后的反射波,获取所述对象的位置处的所述照射波的反射强度信息,并根据所述反射强度信息生成表示所述空间中的所述照射波的反射强度的反射强度图像;
图像信息获取部,获取所述空间的亮度图像;以及
对应信息算出部,根据所述反射强度图像和所述亮度图像各自中的所述对象的位置,算出将所述反射强度图像与所述亮度图像建立对应关系的对应信息。
2.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,
所述对应信息包括将所述反射强度图像与所述亮度图像建立对应关系的旋转、放大缩小以及平移的至少一个。
3.根据权利要求1或2所述的图像处理装置,其中,
配置为所述亮度图像中的规定位置与来自所述规定位置的所述反射波的光轴一致。
4.根据权利要求3所述的图像处理装置,其中,
所述反射强度信息获取部从检测所述反射波的第一检测部获取所述反射强度信息,
所述图像信息获取部从检测所述光的第二检测部获取所述图像信息,
所述第一检测部检测从包括所述反射波的电磁波中根据波长而分离的所述反射波,
所述第二检测部检测从包括所述反射波的电磁波中根据波长而分离的所述光。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的图像处理装置,其中,
所述亮度图像具有比所述反射强度图像更高的分辨率,
所述对应信息算出部使用分辨率降低后的所述亮度图像和所述反射强度图像算出所述对应信息、或者使用所述亮度图像和分辨率提高后的所述反射强度图像算出所述对应信息。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的图像处理装置,其中,
具有根据所述对应信息对所述亮度图像进行校正的控制部。
7.一种图像处理装置,其中,具有:
图像信息获取部,获取存在对象的空间的亮度图像;
反射强度信息获取部,获取根据照射到所述空间的电磁波即照射波被所述对象反射后的反射波而生成的、表示所述空间中的位置处的所述照射波的反射强度的反射强度图像;以及
对应信息算出部,算出与所述空间中的规定的位置对应的、将所述反射强度图像中包括的位置与所述亮度图像中包括的位置建立对应关系的对应信息。
8.根据权利要求7所述的图像处理装置,其中,
所述对应信息是用于使所述反射强度图像中包括的位置和所述亮度图像中包括的位置近似或一致的应用于所述反射强度图像或所述亮度图像的转换式。
9.一种测距装置,其中,具有:
反射强度信息获取部,根据向存在对象的空间的多个方向照射的电磁波即照射波被所述对象反射后的反射波,获取所述对象的位置处的所述照射波的反射强度信息,并根据所述反射强度信息生成表示所述空间中的所述照射波的反射强度的反射强度图像;
图像信息获取部,获取所述空间的亮度图像;
对应信息算出部,根据所述反射强度图像和所述亮度图像各自中的所述对象的位置,算出将所述反射强度图像与所述亮度图像建立对应关系的对应信息;以及
运算部,根据与所述反射强度信息一起获取的所述反射波的检测信息,对与所述对象的距离进行运算。
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