[发明专利]信息处理方法以及充电控制装置在审
申请号: | 202180049601.X | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN115868063A | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 佐田友和;饭田崇;杨长辉;松田昂 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | H01M10/44 | 分类号: | H01M10/44 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张文慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息处理 方法 以及 充电 控制 装置 | ||
通过计算机执行的信息处理方法执行以下步骤:向对电池进行充电的充电装置指示让所述充电装置反复进行包含第一期间的充电和第二期间的停止充电之组的充电控制,并且在充电量达到了规定量的情况下让所述充电装置结束所述充电控制;以及获取表示所述充电控制中的每个所述第二期间的结束时刻的所述电池的电压以及充电容量的工作数据。
技术领域
本发明涉及用于分析可充电的电池的劣化状态的技术。
背景技术
从以往,已知在不破坏二次电池的情况下分析正极、负极等二次电池的构成部件的劣化的称为dV/dQ法的非破坏性(non-destructive)分析方法。在非破坏性分析方法中,以极低的速率(rate)进行二次电池的充电或放电,并且按时间序列获取充电或放电中的二次电池的开路电压(OCV(Open Circuit Voltage))。然后,基于表示开路电压的变化量相对于二次电池的充电容量的变化量的微分值,推测二次电池的劣化状态。
例如,在专利文献1中公开了计算出表示放电时的电池容量Q与表示开路电压V的变化量相对于电池容量Q的变化量之比的微分值dV/dQ之间的关系的微分曲线Q-dV/dQ,基于该微分曲线Q-dV/dQ的峰形状,推测二次电池的劣化状态的方法。
然而,由于以往的非破坏性分析方法需要以低速率进行充电或放电,因此推测二次电池的劣化状态费时。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利申请特愿2014-511054号的公报
发明内容
本发明鉴于上述问题而做出,其目的在于缩短采用非破坏性分析方法推测电池的劣化状态所需的时间。
为了解决上述问题,本发明一个方面涉及的信息处理方法是通过计算机来执行,其执行以下步骤:向对电池进行充电的充电装置指示让所述充电装置反复进行包含第一期间的充电和第二期间的停止充电之组的充电控制,并且在充电量达到了规定量的情况下让所述充电装置结束所述充电控制;以及获取表示所述充电控制中的每个所述第二期间的结束时刻的所述电池的电压以及充电容量的工作数据。
附图说明
图1是表示劣化分析系统的整体结构的图。
图2是表示推测电池劣化状态的动作中的服务器的处理的一例的流程图。
图3是表示推测电池劣化状态的动作中的充电装置或适配器的处理的一例的流程图。
图4是表示在维护充电时被检测的供给到电池的充电电流以及电池的开路电压的一例的图。
图5是表示充电容量与微分数据之间的关系的一例的图。
图6是表示变形例4的劣化分析系统的整体结构的图。
图7是表示变形例5的劣化分析系统的整体结构的图。
具体实施方式
(形成了本发明基础的认知)
如上所述,从以往,已知如专利文献1等中记载的那样,在不破坏电池的情况下分析正极以及负极等二次电池的构成部件的劣化的称为dV/dQ法的非破坏性分析方法。但是,在以往的非破坏性分析方法中,以极低的速率并历时几十个小时对二次电池进行充放电,以使二次电池的开路电压发生充分变化。因此,难以在不停止二次电池的日常运用的情况下通过以往的非破坏性分析方法适当地推测二次电池的劣化状态。
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