[发明专利]基于SPAD的设备的动态范围扩展在审
申请号: | 202180050427.0 | 申请日: | 2021-08-26 |
公开(公告)号: | CN115956210A | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
发明(设计)人: | A·范德阿沃;B·丹尼尔;E·J·劳斯;J·普拉桑娜库马尔 | 申请(专利权)人: | ams国际有限公司 |
主分类号: | G01S7/4863 | 分类号: | G01S7/4863 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邓亚楠 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 spad 设备 动态 范围 扩展 | ||
1.一种辐射敏感设备(420),包括:
多个单光子雪崩二极管(SPAD)(105-0……N);以及
电路(115),被配置为相关于入射辐射的强度来适配所述多个SPAD的读出速率。
2.根据权利要求1所述的辐射敏感设备(420),其中所述电路(115)被配置为:
-响应于入射辐射的所述强度超过阈值来增加读出速率;
-响应于入射辐射的所述强度等于或低于所述阈值来减小读出速率。
3.根据权利要求2所述的辐射敏感设备(420),其中所述阈值是可编程的。
4.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420),其中通过读出所述多个SPAD(105-0……N)的至少一部分的一个或多个循环来确定入射辐射的所述强度。
5.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420),其中所述电路(115)被配置为相关于入射辐射的所述强度来适配被读出的所述多个SPAD(105-0……N)中的SPAD的量。
6.根据权利要求5所述的辐射敏感设备(420),其中当所述强度高时,少量的SPAD(105-0……N)被读出以确定入射辐射的所述强度,以及当所述强度相对低时,相对大量的SPAD被读出以确定入射辐射的所述强度。
7.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420),其中所述多个SPAD(105-0……N)中的每个SPAD具有用于寄存光子撞击的相关联的单位计数器(110-0……N)。
8.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420),其中所述读出速率取决于要被读出的SPAD(105-0……N)的量。
9.根据任一前述权利要求所述的辐射敏感设备(420),其中所述电路(115)包括控制回路,所述控制回路被配置为基于入射辐射的所述强度的一个或多个测量来适配读出速率和要为一个或多个后续强度测量读出的对应的SPAD(105-0……N)的量。
10.一种增加包括多个SPAD(105-0……N)的辐射敏感设备(420)的动态范围的方法,所述方法包括相关于入射辐射的强度适配所述多个SPAD的读出速率。
11.根据权利要求10所述的方法,还包括相关于入射辐射的所述强度适配被读出的所述多个SPAD(105-0……N)中的SPAD的量。
12.根据权利要求11所述的方法,包括当入射辐射的所述强度高时读出少量的SPAD,以及当入射辐射的所述强度相对低时读出相对大量的SPAD(105-0……N)。
13.一种根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420)在护理点测试或诊断应用或电子鼻应用中的使用,以确定来自样本的发光和/或荧光的强度。
14.一种电子鼻或护理点装置,包括根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420),其中所述辐射敏感设备被配置为确定来自样本的发光和/或荧光的强度。
15.一种根据权利要求1至9中任一项所述的辐射敏感设备(420)在环境辐射感测应用中的使用。
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