[发明专利]双能量检测器及检测器数据处理方法在审
申请号: | 202180050979.1 | 申请日: | 2021-07-01 |
公开(公告)号: | CN116324521A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | E·J·里恩 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测德国有限责任公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨 |
地址: | 德国威*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 能量 检测器 数据处理 方法 | ||
1.一种双能量X射线检测器(100),包括具有第一检测器元件(111)的第一检测器行(110)和与其平行布置并且具有第二检测器元件(122)的第二检测器行(120),其中,所述检测器行(110、120)被布置为在行方向上彼此平行并且在要检测的X射线(RX)的方向上一个接一个地布置,使得所述第一检测器行和所述第二检测器行(110、120)在要检测的X射线(RX)中的一个X射线的方向上的投影彼此重叠地偏移有效偏移(Δx;Δy),其中所述一个X射线通过所述第一检测器行或所述第二检测器行(110、120)的参考检测器元件的表面重心。
2.根据权利要求1所述的双能量X射线检测器(100),其中,所述检测器行(110、120)被配置为对要由所述第一检测器行(110)和所述第二检测器行(120)检测的X射线(RX)的光谱进行差分光谱选择性地响应,所述第一检测器行(110)具有Lo检测器元件形式的相关联的第一检测器元件(111)以主要检测低能量X射线,并且所述第二检测器行(120)具有Hi检测器元件形式的相关联的第二检测器元件(122)以主要检测高能量X射线。
3.根据权利要求1或2所述的双能量X射线检测器(100),其中,以下中的至少一个:
所述第一检测器行(110)和所述第二检测器行(120)在所述行方向上偏移第一偏移量(Δx);
所述第一检测器行(110)和所述第二检测器行(120)与所述行方向正交地偏移第二偏移量(Δz);以及
具有所述第一检测器元件(4)的所述第一检测器行和具有所述第二检测器元件(5)的所述第二检测器行彼此隔开预定距离(D),并且相对于参考X射线束(RXref)在所述行方向上和/或正交于所述行方向以倾斜角(α)倾斜。
4.根据权利要求3所述的双能量X射线检测器(100),其中
行方向上的所述第一偏移(Δx)对应于所述第一和第二检测器元件(111,122)在行方向上的宽度的一半;和/或
基于所述检测器元件(111、122)的以1/s为单位的读出频率f与检查对象(216)相对于所述双能量X射线检测器(100)的以cm/s为单位的传送速度b的比率,与所述行方向正交的所述第二偏移(Δz)被定义为:
其中m是奇整数(m=1,3,5,7,...)。
5.一种包括根据权利要求1-4中的任一项所述的双能量X射线检测器(100)的X射线检查装置(200),其中
所述X射线检查装置(200)被配置用于在传送方向(TD)上传送检查对象(216)通过所述检查装置(200);
所述双能量X射线检测器(100)的所述行方向被布置为与所述传送方向(TD)正交;以及
其被配置成提供所获取的所述检查对象(216)的第一检测器数据(Lo1,Lo2,Lo3,...,LoN)和第二检测器数据(Hi1,Hi2,Hi3,...,HiN)。
6.一种用于处理由根据权利要求5所述的X射线检查装置(200)提供的第一检测器数据(Lo1,Lo2,Lo3,...,LoN)和第二检测器数据(Hi1,Hi2,Hi3,...,HiN)的方法(1300;1400;1500;1600),所述方法包括:
(S1)计算在真实第二检测器元件(122)的位置处的相应的虚拟第一检测器数据资料(vLo);和/或
(S2)计算在真实第一检测器元件(111)的位置处的相应的虚拟第二检测器数据资料(vHi)。
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