[发明专利]三维测量装置在审

专利信息
申请号: 202180054641.3 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN116134289A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 藁科文和 申请(专利权)人: 发那科株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;文志
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种三维测量装置,其特征在于,具备:

投光部,其一边扫描参照光一边向对象物投射所述参照光;

受光部,其接收由所述对象物反射的所述参照光;

时刻范围设定部,其对所述受光部中的每个预定分区设定与测距范围对应的所述参照光的扫描时刻范围;以及

三维信息计算部,其通过基于所设定的所述扫描时刻范围的受光部的信息的三角测量,来计算所述对象物的三维信息。

2.根据权利要求1所述的三维测量装置,其特征在于,

所述受光部具有多个像素,针对每个所述像素监视事件,至少将存在所述事件的所述像素的位置、时刻以及极性作为所述信息而输出。

3.根据权利要求1或2所述的三维测量装置,其特征在于,

所述投光部保持预定的投射角度间隔来投射多个所述参照光。

4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

所述扫描时刻范围是所述参照光扫描所述受光部的像素的视线与所述测距范围之间的交叉线段的扫描时刻范围。

5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

将所述受光部中的一个像素作为一个分区而对每个像素设定所述扫描时刻范围,或者将所述受光部中的接近的像素群作为一个分区而对每个分区设定所述扫描时刻范围。

6.根据权利要求3所述的三维测量装置,其特征在于,

所述三维测量装置还具备投射角度间隔设定部,该投射角度间隔设定部根据所设定的所述扫描时刻范围来设定所述投射角度间隔。

7.根据权利要求1~6中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

所述受光部具备仅输出多个像素中的关心区域内的所述信息的功能,所述关心区域随着时间的经过而移动,使得包含设定了以下的扫描时刻范围的所述分区,其中,该扫描时刻范围包含测量中的某时刻。

8.根据权利要求1~6中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

所述受光部具备仅输出多个像素中的关心区域内的所述信息的功能,所述关心区域随着时间的经过而移动,使得在测量中的某时刻包含与所述测距范围对应的所述参照光的成像范围。

9.一种三维测量装置,其特征在于,具备:

投光部,其一边扫描参照光一边向对象物投射所述参照光;

受光部,其具备接收由所述对象物反射的所述参照光并仅输出关心区域内的信息的功能,并根据所述参照光的扫描使所述关心区域移动;以及

三维信息计算部,其通过基于所述关心区域的所述受光部的信息的三角测量,来计算所述对象物的三维信息。

10.根据权利要求9所述的三维测量装置,其特征在于,

所述受光部具有多个像素,针对每个所述像素监视事件,至少将存在所述事件的所述像素的位置、时刻以及极性作为所述信息而输出。

11.根据权利要求9或10所述的三维测量装置,其特征在于,

所述关心区域随着时间的经过而移动,使得在测量中的某时刻包含与测距范围对应的所述参照光的成像范围。

12.根据权利要求9~11中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

所述三维测量装置具备关心区域设定部,该关心区域设定部设定所述关心区域的初始位置、尺寸、移动方向以及移动速度中的至少一个。

13.根据权利要求9~12中的任意一项所述的三维测量装置,其特征在于,

基于与测距范围对应的所述参照光的成像范围来设定所述关心区域的尺寸。

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