[发明专利]用于仿射运动补偿预测细化的方法和装置

权利要求书

1.一种用于仿射运动补偿预测细化AMPR的方法，包括：

确定子块中的样点位置的相邻样点位置是否在所述子块之外；以及

响应于确定所述相邻样点位置在所述子块之外，将填充样点复制到所述相邻样点位置以用于基于滤波器的AMPR实现。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于滤波器的AMPR实现包括：

获得针对在所述样点位置和多个相邻样点位置处的多个样点的多个仿射运动补偿预测，所述多个相邻样点位置包括在所述子块之外的一个或多个相邻样点位置；以及

在所述样点位置处，基于所述多个仿射运动补偿预测，使用具有预先确定的形状的滤波器来获得针对在所述样点位置处的样点的经细化的预测，其中，所述预先确定的形状覆盖所述样点位置和所述多个相邻样点位置。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括：

通过对包括多个子块的视频图片执行基于子块的仿射运动补偿来获得所述多个仿射运动补偿预测。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定参考图片中的在整数位置处的参考样点；以及

将所述参考样点确定为所述填充样点。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，确定所述参考图片中的在所述整数位置处的所述参考样点包括：

确定所述参考图片中的相邻参考样点，其中，所述相邻参考样点是最接近与所述样点位置相对应的预测样点的在整数位置处的参考样点。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，确定所述参考图片中的在所述整数位置处的所述参考样点包括：

确定位于预测样点左侧并且位于所述预测样点上方的在所述整数位置处的所述参考样点，其中，所述预测样点对应于所述样点位置。

7.根据权利要求4所述的方法，其中，确定所述参考图片中的在所述整数位置处的所述参考样点包括：

确定位于预测样点右侧并且位于所述预测样点上方的在所述整数位置处的所述参考样点，其中，所述预测样点对应于所述样点位置。

8.根据权利要求4所述的方法，其中，确定所述参考图片中的在所述整数位置处的所述参考样点包括：

确定位于所述预测样点左侧并且位于所述预测样点下方的在所述整数位置处的所述参考样点，其中，所述预测样点对应于所述样点位置。

9.根据权利要求4所述的方法，其中，确定所述参考图片中的在所述整数位置处的所述参考样点包括：

确定位于所述预测样点右侧并且位于所述预测样点下方的在所述整数位置处的所述参考样点，其中，所述预测样点对应于所述样点位置。

10.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定参考图片中的在多个整数位置处的多个参考样点的平均样点；以及

将所述平均样点确定为所述填充样点。

11.根据权利要求1所述的方法，还包括：

使用插值滤波器来确定所述填充样点。

12.根据权利要求11所述的方法，还包括：

通过根据参考图片中的在多个整数位置处的多个参考样点中的每个参考样点与对应于所述样点位置的预测样点之间的距离进行插值，来确定所述填充样点。

13.根据权利要求1所述的方法，还包括：

将在所述子块的边界处的预测样点确定为所述填充样点。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括：

将与所述子块的所述边界处的所述样点位置相对应的所述预测样点确定为所述填充样点。