[发明专利]解译来自阵列元表面的光信号

说明书

一种系统和方法解译用一组光学设备(1,1a,1b,1c)进行的光学表征检查。每个设备包括光学元表面结构(12)的一个或多个阵列(21‑26)并且具有定制成具有使它们彼此不同的不同特性的阵列(21‑26)。分别访问捕获每个设备(1)的物理指纹的第一数据和第二数据以及用每个设备(1)执行的光学表征检查的结果。所执行的检查的结果受阵列(21‑26)的相应不同特性的影响。基于所访问的第一数据标识每个设备(1)，这使得可以获得与所标识的设备相关联的读出键。该读出键解释不同特性中的相应特性。最后，根据所获得的读出键来解译第二数据以阐明光学表征检查的结果。本发明还涉及相关的计算机程序产品。

背景技术

本公开总体上涉及用于解译用若干光学设备进行的光学表征检查的技术。具体地，本发明涉及基于具有光学元表面结构阵列的设备的方法，其中，将这些阵列定制得具有充当配置秘密的不同特性，并且其中，额外地利用设备的物理指纹来认证设备。

发明内容

根据第一方面，提供了一种用于检查一组光学设备的方法。每个设备包括一个或多个光学元表面结构阵列。所述设备被定制成使得它们的相应阵列具有不同特性。所述光学设备相应地因所述阵列的不同特性而彼此不同。本方法包括为该组中的每个设备执行的一系列步骤。首先，(例如，由服务器)分别访问捕获每个设备的物理指纹的第一数据和第二数据以及用每个设备执行的光学表征检查的结果。由于设备具有不同特性，用它们执行的检查的结果受到阵列的相应不同特性的影响。即，用该组中的给定设备执行的表征检查的结果受到不同特性中的相应特性的影响。基于所访问的第一数据标识每个设备，这进而使得有可能获得与所标识的设备相关联的读出键。读出键解释不同特性中的相应特性。最后，根据所获得的读出键来解译第二数据以阐明光学表征检查的结果。该结果随后可被提供给检查设备。

使用包括不同阵列的光学设备执行的光学表征检查可以引起不同或合并的光信号的形成(由于不同阵列)。所有这些信号相应地影响或以某种方式形成该检查的结果的一部分。

本方法允许实现两个安全级别。首先，每个光学设备的物理指纹很难(如果不是不可能的话)克隆，从而使得每个光学设备可以被明确地标识。其次，仅可以针对已经适当标识的那些设备获得读出键。而且，设备的用户在该过程期间可能被认证。因此，只有合法设备(以及可能经认证的用户)才能够例如使得服务器适当地解译结果或提供用以解译用定制的光学设备获得的数据的分析信息。

在一些实施例中，结果受不同特性中的相应特性和每个设备的物理指纹两者的影响。在这种情况下，相应的读出键可能已经被设计成用于解释不同特性中的相应特性和每个设备的物理指纹两者。此外，访问第一数据和第二数据可以首先包括接收表征数据。在这种情况下，鉴于标识每个设备，基于所接收的表征数据确定第一和第二数据，以获得相关联的读出键并根据所获得的读出键解译第二数据。依赖于单个表征步骤(从其获得两种类型的数据)在一些应用中可以是有利的，因为它可以简化本地(例如，在护理点)执行的操作。

优选地，物理指纹是每个设备的一个或多个阵列的不可克隆特性。不可克隆特性(诸如物理不可克隆特性)使得恶意用户更加难以(或者甚至在实践中不可能)复制阵列的光学设备。在变体中，人们可以依赖于嵌入式安全特征而不是不可克隆特性。进一步的变体可以利用附着至光学设备的物理锚定器的不可克隆特性或其中嵌入式安全特征。

在一些实施例中，该组的光学设备各自包括两个或更多个元表面结构阵列，它们一起赋予光学设备不同特性，使得该组的设备彼此不同。因此，可以更容易地定制特性，以导致不同的(但可预测的)特性，并且因此在执行光学表征检查时产生不同的表征结果。尽管如此，可以将适当的读出键分配给光学设备，其中这样的键包括据其可以正确地解译检查结果的代码、函数等。