[发明专利]运算装置、表面粗糙度预测系统及运算方法

说明书

一种根据物理量预测工件的表面粗糙度的运算装置(12)，其具备：测定数据获取部(36)，其获取测定数据(SRsubgt;mea/subgt;)，该测定数据(SRsubgt;mea/subgt;)是由表面粗糙度测定装置测定的表面粗糙度；物理量获取部(38)，其获取表示表面粗糙度的产生要因的物理量(PQ)；第一振幅频谱变换部(40)，其将测定数据(SRsubgt;mea/subgt;)变换为第一振幅频谱(Fsubgt;1/subgt;)；第二振幅频谱变换部(42)，其将物理量(PQ)变换为第二振幅频谱(Fsubgt;2/subgt;)；以及系数计算部(44)，其基于特定频率(FB)、第二振幅频谱(Fsubgt;2/subgt;)、第一振幅频谱(Fsubgt;1/subgt;)计算出系数(C)。

技术领域

本发明涉及用于预测由机床加工的工件的表面粗糙度的运算装置、表面粗糙度预测系统以及运算方法。

背景技术

在日本特开2018-189582号公报中，公开了测定由机床加工的工件的表面粗糙度的测量装置(以下称为表面粗糙度测定装置)的一例。

发明内容

在机床领域中，对由机床加工的工件的表面粗糙度进行检查。在该检查中，通过在实际加工之前对试件进行试验加工来测定试件的加工表面粗糙度。由此，对试件的加工表面粗糙度进行评价。然而，试件的表面粗糙度受到刀具磨损或操作者操作精度等与机床性能无关的要因的极大影响，例如。因此，仅通过测定试件的表面粗糙度，难以高精度地预测其后作为产品加工的工件的表面粗糙度。

因此，本发明的目的在于提供一种能够预测工件的表面粗糙度的运算装置、表面粗糙度预测系统以及运算方法。

本发明的第一方式是一种运算装置，其具备：测定数据获取部，其获取测定数据，该测定数据由表面粗糙度测定装置测定，表示在机床上加工的工件的表面粗糙度；物理量获取部，其获取物理量，该物理量表示在所述机床的加工中、因所述机床的性能而在工件上产生表面粗糙度的产生要因；第一振幅频谱变换部，其对所述测定数据进行频率解析并变换为第一振幅频谱；第二振幅频谱变换部，其对所述物理量进行频率解析并变换为第二振幅频谱；以及系数计算部，其为了根据所述物理量预测工件的表面粗糙度而计算系数，所述系数与作为预先决定的频率或预先决定的频带的特定频率下的所述第二振幅频谱的振幅值相乘时，在规定范围内与所述特定频率下的第一振幅频谱的振幅值相等。

本发明的第二方式是一种表面粗糙度预测系统，其具备第一方式的运算装置、和使用所述特定频率及所述系数预测由所述机床加工的所述工件的表面粗糙度的表面粗糙度预测装置，所述表面粗糙度预测装置具备：物理量获取部，其获取物理量，所述物理量表示在所述机床的加工中、因所述机床的性能而在工件上产生表面粗糙度的产生要因；振幅频谱变换部，其对所述物理量进行频率解析并变换为振幅频谱；存储部，其存储所述系数及所述特定频率；表面粗糙度频谱计算部，其将所述特定频率下的所述振幅频谱的振幅值与所述系数相乘，算出表示所述工件的表面粗糙度的表面粗糙度振幅频谱；以及表面粗糙度计算部，其对所述表面粗糙度振幅频谱进行逆变换，计算表示所述工件的表面粗糙度的预测数据。

本发明的第二方式是一种运算方法，其包括如下步骤：测定数据获取步骤，获取测定数据，该测定数据由表面粗糙度测定装置测定，表示在机床上加工的工件的表面粗糙度；物理量获取步骤，获取物理量，该物理量表示在所述机床的加工中、因所述机床的性能而在工件上产生表面粗糙度的产生要因；第一振幅频谱变换步骤，对所述测定数据进行频率解析并变换为第一振幅频谱；第二振幅频谱变换步骤，对在所述物理量获取步骤中获取的所述物理量进行频率解析，并变换为第二振幅频谱；以及系数计算步骤，为了根据所述物理量预测工件的表面粗糙度而计算系数，所述系数与作为预先决定的频率或预先决定的频带的特定频率下的所述第二振幅频谱的振幅值相乘时，在规定范围内与所述特定频率下的第一振幅频谱的振幅值相等。

根据本发明的一个方式，提供了一种能够预测工件的表面粗糙度的运算装置、表面粗糙度预测系统以及运算方法。

附图说明