[发明专利]校正系统及校正方法

说明书

校正系统包括取得部(11)、存储部(13)以及校正部(14a)，所述取得部(11)取得表示第一捕集效率的信息，所述第一捕集效率为过滤器(30)对第一微粒的捕集效率，所述存储部(13)存储校正数据(X)，所述校正数据(X)用于所述将第一捕集效率校正为第二捕集效率，所述第二捕集效率为所述过滤器(30)对第二微粒的捕集效率，所述校正部(14a)基于所述校正数据(X)将所述取得部(11)所取得的所述第一捕集效率校正为所述第二捕集效率。

技术领域

本公开涉及一种校正系统及校正方法。

背景技术

专利文献1中所记载的空调装置包括过滤器，利用过滤器捕集从室外取入到装置内的空气中的粉尘。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报特开2008－213711号公报

发明内容

－发明要解决的技术问题－

在判断过滤器的性能时，有时使用预先设定好的基准，例如ASHRAE52.2标准下的基准。在该情况下，将实地的过滤器的捕集效率与作为预先设定好的基准的捕集效率进行比较。

然而，在设置有过滤器的实地的环境与设定上述基准时的环境(基准环境)不同的情况下，若在基准环境下使用实地的过滤器，则在实地的过滤器的捕集效率与基准环境下的过滤器的捕集效率之间有可能产生差距。在该情况下，若将实地的过滤器的捕集效率与作为基准的捕集效率进行比较，则有可能无法高精度地判断过滤器的性能。这是因为：对于实地的过滤器的捕集效率没有实施将其校正为基准环境下的过滤器的捕集效率的处理，没有消除因实地环境与基准环境的环境的不同而产生的差距。

本公开的目的在于：能够校正过滤器的捕集效率。

－用以解决技术问题的技术方案－

本公开的第一方面以一种校正系统为对象。校正系统包括取得部11、存储部13以及校正部14a，所述取得部11取得表示第一捕集效率的信息，所述第一捕集效率为过滤器30对第一微粒的捕集效率，所述存储部13存储校正数据X，所述校正数据X用于将所述第一捕集效率校正为第二捕集效率，所述第二捕集效率为所述过滤器30对第二微粒的捕集效率，所述校正部14a基于所述校正数据X将所述取得部11所取得的所述第一捕集效率校正为所述第二捕集效率。

在第一方面中，能够校正过滤器30的第一捕集效率。

本公开的第二方面在第一方面的基础上，所述校正数据X包括第一相关信息X1，所述第一相关信息X1表示所述第一捕集效率与所述第二捕集效率之间的相关关系。

在第二方面中，能够使用第一相关信息X1将第一捕集效率校正为第二捕集效率。

本公开的第三方面在第一方面的基础上，所述校正数据X包括第二捕集效率相对于所述过滤器30对试验微粒的捕集效率的相关信息，所述试验微粒表示被推测为存在于实地的所述第一微粒、或在所述实地测量到的所述第一微粒。

在第三方面中，能够使用相关信息将第一捕集效率校正为第二捕集效率。

本公开的第四方面在第一方面的基础上，所述校正数据X包括第二捕集效率相对于所述过滤器30对试验微粒的捕集效率的相关信息，所述试验微粒表示规定标准的所述第一微粒。

在第四方面中，能够使用相关信息将第一捕集效率校正为第二捕集效率。