[发明专利]用于检测膜的侧面的方法和光学检查单元在审
申请号: | 202180071592.4 | 申请日: | 2021-10-19 |
公开(公告)号: | CN116368376A | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 翁贝托·卡拉里;弗朗切斯科·弗拉斯蒂耶里 | 申请(专利权)人: | 马波斯S·P·A·公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892 |
代理公司: | 北京维飞联创知识产权代理有限公司 11857 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 侧面 方法 光学 检查 单元 | ||
1.一种光学检查单元(1),用于检查沿路径(P)前进的膜(3)的侧面(2),包括:
相机(7),其相邻所述路径(P)设置,且配置为通过光学系统(8)对所述膜(3)的所述侧面(2)进行拍摄并获取所述侧面(2)的数字图像序列(9);以及
至少一个照明装置(10),其包括配置为产生光束(11)的发射器(13),所述发射器(13)相对于所述膜(3)的所述侧面(2)设置于所述光学系统(8)的同一侧上并朝向所述膜(3)的所述侧面(2)定向;
所述检查单元(1)的特征在于,所述照明装置(10)还包括至少一个反射元件(14),其设置于所述光学系统(8)的相对于所述膜(3)的所述侧面(2)的相对侧并朝向所述光学系统(8)定向,以便朝向所述侧面(2)反射由所述发射器(13)发射的光束(11)的一部分并照亮围绕所述膜(3)的所述侧面(2)的区域。
2.根据权利要求1所述的检查单元(1),其特征在于,其中,所述照明装置(10)包括两个反射元件(14),其并排布置在所述膜(3)的相对侧。
3.根据权利要求1或2所述的检查单元(1),其特征在于,其中,所述发射器(13)在所述光学系统(8)内发射所述光束(11),使得所述光束(11)与所述光学系统(8)同轴地从所述光学系统(8)出射。
4.根据权利要求3的检查单元(1),其特征在于,其中,从光学系统(8)出来的所述光束(11)部分地直接照射所述膜(3)的所述侧面(2),并部分地由所述反射元件(14)反射。
5.根据权利要求3或4所述的检查单元(1),其特征在于,其中,所述光学系统(8)配置为将由所述发射器(13)发射的所述光束(11)的一部分聚焦在所述膜(3)的所述侧面(2)。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的检查单元(1),其特征在于,其中,所述发射器(13)与所述光学系统(8)同轴布置,且所述相机(7)垂直于所述光学系统(8)设置。
7.一种用于检查膜(3)的侧面(2)的光学检查方法,包括以下步骤:
使所述膜(3)沿路径(P)前进;
通过相机(7)获取所述膜(3)的所述侧面(2)的数字图像序列(9),所述相机设置于所述路径(P)旁以通过光学系统(8)对所述侧面(2)进行拍摄;以及通过照明装置(10)产生至少一个光束(11),所述光束(11)与所述光学系统(8)同轴地从所述光学系统(8)出射并部分地直接照亮所述膜(3)的所述侧面(2);
所述检查方法的特征在于,由所述照明装置(10)产生的所述光束(11)由反射元件(14)部分地反射,所述反射元件(14)相对于所述膜(3)的所述侧面(2)设置于所述光学系统(8)的相对侧并朝向光学系统(8)定向,并照亮所膜(3)的所述侧面(2)周围的区域。
8.一种光学检查方法,用于检查具有中心金属层(4)和两个绝缘外层(5)的膜(3)的侧面(2),包括以下步骤:
使所述膜(3)沿路径(P)前进;
通过照明装置(10)产生照亮所述膜(3)的至少一个光束(11);
通过相机(7)获取所述膜(3)的所述侧面(2)的数字图像序列(9),所述相机设置于所述路径(P)旁以通过光学系统(8)对所述侧面(2)进行拍摄;以及分析每个数字图像(9)以将所述中心金属层(4)的碎片(B)显示在所述数字图像(9)内;
其中,每个数字图像(9)是彩色的且由一组像素组成,其中,每个像素对应于红色分量的对应值、绿色分量的对应值和蓝色分量的对应值;
所述检查方法的特征在于,所述分析每个数字图像(9)还包括以下步骤:仅在红色分量的对应值被包括在第一识别间隔中,绿色分量的对应值被包括在第二识别间隔中,并且蓝色分量的对应值被包括在第三识别间隔中的情况下,确定像素表示所述中心金属层(4)的所述碎片之一。
9.根据权利要求8所述的检查方法,其特征在于,其中,所述三个识别间隔彼此不同。
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