[发明专利]应用控件的测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种应用控件的测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及软件工程技术领域。该应用控件的测试方法包括：本申请提供了一种应用控件的测试方法，具体而言，该方法包括：获得第一覆盖树信息和第二覆盖树信息，通过对第一覆盖树信息与第二覆盖树信息进行对比，可以获知其中是否存在差异节点数据，当存在差异节点数据时，对第一覆盖树信息的每个差异节点数据进行搜索，直至获得全部差异节点数据对应的下游路径信息，最后，根据全部下游路径信息对第一覆盖树信息进行更新。打破了自动测试固有的测试搜索策略，提高自动测试的测试效果，实现对更多应用控件路径信息的覆盖。

技术领域

本发明涉及软件工程技术领域，具体而言，涉及一种应用控件的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着信息化的迅速发展，电子应用快速交付压力迫使开发周期不断缩短，如何在保障效率的同时提升应用质量成为软件开发者普遍面临的问题。

现有的应用测试方法，基于众包测试或者自动化测试工具实现，由于众包测试中测试人员水平参差不齐，且测试过程主观性强，难以对测试流程进行复现。基于自动化测试工具实现的应用测试需要专业人员撰写测试脚本，且由于弹窗、回退等问题难以覆盖应用中的全部控件。因此，迫切需要一种控件覆盖广且能够实现自动化测试的应用测试方法。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种应用控件的测试方法、装置、电子设备及存储介质，以便对目前应用控件测试方法进行优化。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种应用控件的测试方法，所述方法包括：

获得第一覆盖树信息和第二覆盖树信息，所述第一覆盖树信息表征经由自动测试产生的应用控件路径信息；所述第二覆盖树信息表征经由至少一个用户操作产生的应用控件路径信息；

将所述第一覆盖树信息与所述第二覆盖树信息进行比较；

当存在差异节点数据时，对所述第一覆盖树信息的每个所述差异节点数据进行搜索，直至获得全部所述差异节点数据对应的下游路径信息；其中，所述应用控件路径信息包括节点数据，所述差异节点数据为所述第一覆盖树信息与所述第二覆盖树信息一致，且对应的下游路径存在差异的节点数据；

根据全部所述下游路径信息对所述第一覆盖树信息进行更新。

可选的，所述第一覆盖树信息和所述第二覆盖树信息采用树状拓扑结构生成，所述树状拓扑结构中节点为所述节点数据；所述将所述第一覆盖树信息与所述第二覆盖树信息进行比较的步骤，包括：

当存在差异节点数据时，对所述第一覆盖树信息的每个差异节点数据进行搜索，直至获得全部所述差异节点数据对应的下游节点数据，及所述下游节点数据的至少一个节点顺序信息；所述差异节点数据为所述第一覆盖树信息与所述第二覆盖树信息一致，且对应的下游节点数据存在差异的节点；

根据全部所述下游节点数据、节点顺序信息对所述第一覆盖树信息进行更新。

可选的，所述第一覆盖树信息的生成方法包括：

生成第一覆盖树模型；

根据所述自动测试产生的所述应用控件路径信息，获取所述应用控件路径信息中的所述节点数据及节点顺序信息；

根据所述节点数据及所述节点顺序信息，更新所述第一覆盖树模型，生成所述第一覆盖树。

可选的，所述自动测试产生所述应用控件路径信息的方法包括：

获得第一应用界面上的应用控件信息；