[发明专利]一种表面缺陷检测方法及系统

说明书

本发明涉及表面缺陷检测技术领域，具体公开一种表面缺陷检测方法及系统，所述方法包括：选取图像中任一检测点作为待评估检测点；根据待评估检测点的位置确定与该待评估检测点相关的待测区域；获取所述待测区域内包括所述待评估检测点的所有检测点的实测高度，并计算得到所述待测区域内各所述检测点的平均高度；获取各所述平均高度的实测极差；根据所述实测极差和预设的阈值极差，对所述待评估检测点进行表面缺陷评价。本发明提供一种表面缺陷检测方法及系统，使用实测极差作为判据，有效降低数据运算量，提高检测效率。

技术领域

本发明涉及表面缺陷检测技术领域，尤其涉及一种表面缺陷检测方法及系统。

背景技术

许多产品对表面平整度都有一定的要求，若表面存在明显的凹坑或者凸点等，就应该被认为具有表面缺陷。一般地，进行表面缺陷检测的步骤如下：

①对产品的表面进行扫描，获取产品的表面的差分图像，然后获取差分图像上各个检测点A₁，A₂，A₃……A_n的实测高度a₁，a₂，a₃……a_n；

②计算得到所有检测点的实测高度a₁，a₂，a₃……a_n的实测方差c；

③比对实测方差c和预设的阈值方差d，若二者的差值在误差允许范围内，则认为该产品的表面缺陷检测合格，若二者的差值超出误差允许范围，则认为该产品的表面缺陷检测不合格。

然而，方差的计算过程是十分复杂的，且运算量较大，一旦进行高分辨率的检测时，数据处理量暴增，容易出现延迟甚至死机的情况。因此，需要对表面缺陷检测方法进行优化，以解决使用方差作为判据带来的计算量过大的问题。

发明内容

本发明的一个目的在于，提供一种表面缺陷检测方法及系统，使用实测极差作为判据，有效降低数据运算量，提高检测效率。

为达以上目的，一方面，本发明提供一种表面缺陷检测方法，包括：

选取图像中任一检测点作为待评估检测点，根据待评估检测点的位置确定与该待评估检测点相关的待测区域；

获取所述待测区域内包括所述待评估检测点的所有检测点的实测高度，并计算得到所述待测区域内各所述检测点的平均高度；

获取各所述平均高度的实测极差；

根据所述实测极差和预设的阈值极差，对所述待评估检测点进行表面缺陷评价。

可选的，所述待评估检测点位于所述待测区域的几何中心处。

可选的，所述待测区域为矩形；所述实测高度和平均高度满足以下关系式：

其中，

P(x，y)：坐标为(x，y)的待评估检测点的实测高度；

i：正整数，代表区间[x-a，x+a]内不同的横坐标x；

j：正整数，代表区间[y-b，y+b]内不同的纵坐标y；

P(i，j)：待测区域内任一检测点的实测高度；

F(x，y)：以P(x，y)为对角线交点，P(x-a，y+b)、P(x+a，y+b)、P(x+a，y-b)、P(x-a，y-b)四个检测点所围成的待测区域的平均高度；

2a：待测区域沿X轴方向的长度尺寸；

2b：待测区域沿Y轴方向的宽度尺寸。