[发明专利]图形纹理映射在审

专利信息
申请号: 202210007714.X 申请日: 2022-01-05
公开(公告)号: CN114782608A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: E·菲尔丁 申请(专利权)人: Arm有限公司
主分类号: G06T15/04 分类号: G06T15/04;G06T11/00;G06T15/00;G06T1/20;G06F17/12
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 张亚静;王小东
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图形 纹理 映射
【权利要求书】:

1.一种在采样纹理时执行各向异性过滤以提供在图形处理系统中渲染输出时使用的输出采样纹理值的方法,所述方法包括:

当使用各向异性过滤采样纹理以提供针对所述纹理中的位置x,y的输出采样纹理值时:

通过以下方式来确定在所述纹理中要沿着来获取样本的各向异性方向:

确定任意长度向量的X分量和Y分量,所述任意长度向量对应于所述纹理被采样的采样点到所述纹理被应用于的表面上的假设椭圆形投影的长轴的方向;

将所确定的X向量分量和所确定的Y向量分量归一化以提供单位向量的X分量和Y分量,所述单位向量对应于所述采样点投影到所述纹理被应用于的所述表面上的所述椭圆形占有面积的所述长轴的所述方向;以及

使用所述单位向量的所述如此确定的X分量和所述如此确定的Y分量作为在所述纹理中要沿着来获取样本的所述各向异性方向,所述单位向量对应于所述采样点到所述纹理被应用于的所述表面上的所述椭圆形投影的所述长轴的所述方向;

所述方法还包括:

在所述纹理中沿着所确定的各向异性方向获取一个或多个样本;以及

使用在所述纹理中沿着所述各向异性方向获取的所述一个或多个样本来提供针对所述纹理中被采样的所述位置的输出采样纹理值,以供使用。

2.根据权利要求1所述的方法,包括:

确定具有形式Ax2+Bxy+Cy2=F的椭圆的系数A、B和C,所述椭圆对应于所述纹理被采样的所述采样点到所述纹理要应用于的所述表面上的所述投影,其中x和y是所述纹理中的所述位置的坐标,针对所述位置的所述输出采样纹理值将被提供;以及

仅使用所述椭圆系数A、B、C和F中的所确定的系数A、B和C来确定所述任意长度向量的所述X分量和所述Y分量,所述任意长度向量对应于所述采样点到所述纹理被应用于的所述表面上的所述椭圆形投影的所述长轴的所述方向。

3.根据权利要求2所述的方法,其中仅使用所述椭圆系数B来确定所述X分量和所述Y分量中的一者,并且使用所有所述系数A、B和C来确定所述X分量和所述Y分量中的另一者。

4.根据权利要求3所述的方法,其中根据所述椭圆系数A是否大于所述椭圆系数C来确定:仅使用所述椭圆系数B来确定所述X分量和所述Y分量中的哪一者,以及使用所有所述系数A、B和C来确定所述X分量和所述Y分量中的哪一者。

5.根据权利要求1所述的方法,其中根据所述椭圆系数A、B和C如下确定所述任意长度向量的所述X分量和所述Y分量,所述任意长度向量对应于所述纹理被采样的所述采样点到所述纹理被应用于的所述表面上的所述假设椭圆形投影的所述长轴的所述方向:

if(AC)

{

aniso_vec.x=-B

aniso_vec.y=A-C+root

}

if(AC)

{

aniso_vec.x=A-C-root

aniso_vec.y=B

}

其中:

aniso_vec.x和aniso_vec.y分别是所述任意长度向量的所述X分量和所述Y分量,所述任意长度向量对应于所述采样位置到所述纹理被应用于的所述表面上的所述椭圆形投影的所述长轴的所述方向;

A、B和C是所述椭圆系数;并且

root=sqrt((A-C)^2+B^2)。

6.根据权利要求1所述的方法,包括:

将所确定的X向量分量和所确定的Y向量分量归一化以通过以下方式提供单位向量的X分量和Y分量,所述单位向量对应于所述采样点投影到所述纹理被应用于的所述表面上的所述椭圆形占有面积的所述长轴的所述方向:

根据所述任意长度长轴方向向量的所确定的X分量和所确定的Y分量确定所述任意长度向量的长度;以及

然后将所述任意长度长轴方向向量的所确定的X分量和所确定的Y分量除以所述向量的所确定的长度,以提供在所述椭圆的所述长轴的所述方向上的所述单位向量的所述对应X分量和所述对应Y分量,所述椭圆是所述采样点到所述纹理被应用于的所述表面上的所述投影。

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