[发明专利]谐振型红外传感器、谐振型红外传感器的制备方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210009542.X 申请日: 2022-01-06
公开(公告)号: CN114353956A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 南天翔;曹昌铭;马宇轩;田世伟 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;G01J5/02
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 李丹;栗若木
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 谐振 红外传感器 制备 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种谐振型红外传感器,包括:谐振振子(1)、红外线吸收膜(2)、位于谐振振子(1)下方的衬底(3);其中,

所述谐振振子(1)设置有一个以上第一通孔(1-1);

所述红外线吸收膜(2)设置有一个以上第二通孔(2-1);

其中,所述第一通孔(1-1)和所述第二通孔(2-1)用于通过腐蚀性流体,以在衬底(3)上刻蚀空腔。

2.根据权利要求1所述的谐振型红外传感器,其特征在于,所述第一通孔(1-1)的总面积与所述谐振振子(1)最小外接矩形圈定区域的面积的比值为第一预设比值;

其中,所述第一预设比值的取值范围为0.0005~0.7。

3.根据权利要求1所述的谐振型红外传感器,其特征在于,所述第二通孔(2-1)的总面积与所述谐振振子(1)最小外接矩形圈定区域的面积的比值为第二预设比值;

其中,所述第二预设比值的取值范围为0.0005~0.7。

4.根据权利要求1所述的谐振型红外传感器,其特征在于,所述衬底(3)上刻蚀的所述空腔的上表面的面积与所述谐振振子(1)的最小外接矩形圈定的区域的面积的比值为第三预设比值;

其中,所述第三预设比值大于或等于0.3但小于或等于9。

5.一种谐振型红外传感器的制备方法,包括:

在衬底上制备包含第一通孔的谐振振子;

在制备的谐振振子上制备用于制备红外线吸收膜的第一材料层;

图形化处理第一材料层,获得包含第二通孔的红外线吸收膜;

在红外线吸收膜上制备用于制备阻断掩模的第二材料层;

图形化处理第二材料层,获得阻断掩模;

腐蚀性流体通过第一通孔和第二通孔流向衬底以在衬底上刻蚀空腔;

去除阻断掩模,获得谐振型红外传感器;

其中,所述阻断掩模用于阻断除第一通孔、第二通孔外所有腐蚀性流体的通路。

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述去除阻断掩模,包括:通过溶解和/或等离子体轰击去除所述阻断掩模。

7.一种谐振型红外传感器的制备方法,包括:

在衬底上制备包含第一通孔的谐振振子;

在制备的谐振振子上制备用于制备红外线吸收膜的第一材料层;

图形化处理第一材料层,获得包含第二通孔的红外线吸收膜;

在红外线吸收膜上制备用于制备阻断掩模的第二材料层;

图形化处理第二材料层,获得阻断掩模;

在阻断掩模上制备用于制备图形化掩模的第三材料层;

图形化处理第三材料层,获得图形化掩模;

腐蚀性流体通过第一通孔和第二通孔流向衬底以在衬底上刻蚀空腔;

利用图形化掩模刻蚀阻断掩模;

去除图形化掩模,获得谐振型红外传感器;

其中,所述阻断掩模用于阻断除第一通孔、第二通孔外所有腐蚀性流体的通路。

8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述去除阻断掩模,包括:通过溶解和/或等离子体轰击去除所述阻断掩模。

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