[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202210017507.2 申请日: 2022-01-07
公开(公告)号: CN114765163A 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 木村义孝;益本宽之 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/62 分类号: H01L23/62
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,具有:

绝缘基板,其具有电路图案;

半导体芯片,其安装于所述绝缘基板之上,与所述电路图案连接;以及

过电流切断机构,其由与所述电路图案相同的材料构成,与所述电路图案串联连接,如果流过过电流,则该过电流切断机构熔融而断线。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述过电流切断机构具有第1导体部、第2导体部和连接在所述第1导体部与所述第2导体部之间的缩颈部。

3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1导体部及第2导体部的截面积大于所述缩颈部的截面积。

4.根据权利要求2或3所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1导体部及第2导体部的长度大于所述缩颈部的长度。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1导体部及第2导体部的厚度大于或等于0.5mm。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述过电流切断机构由1个导电体构成。

7.根据权利要求2至6中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1导体部及第2导体部构成相对于所述绝缘基板的上表面而直立的平行平板。

8.根据权利要求7所述的半导体装置,其特征在于,

在成为所述平行平板的所述第1导体部及第2导体部之间插入有绝缘物。

9.根据权利要求2至8中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体装置还具有:

封装材料,其将所述绝缘基板及所述半导体芯片封装;以及

盖,

所述缩颈部的至少1个面从所述封装材料露出且被所述盖覆盖。

10.根据权利要求2至8中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

还具有将所述绝缘基板及所述半导体芯片封装的封装材料,

所述缩颈部的至少1个面从所述封装材料露出,被由与所述封装材料不同的材料构成的绝缘材料覆盖。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述半导体芯片由宽带隙半导体形成。

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