[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202210017507.2 | 申请日: | 2022-01-07 |
公开(公告)号: | CN114765163A | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 木村义孝;益本宽之 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L23/62 | 分类号: | H01L23/62 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,其特征在于,具有:
绝缘基板,其具有电路图案;
半导体芯片,其安装于所述绝缘基板之上,与所述电路图案连接;以及
过电流切断机构,其由与所述电路图案相同的材料构成,与所述电路图案串联连接,如果流过过电流,则该过电流切断机构熔融而断线。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
所述过电流切断机构具有第1导体部、第2导体部和连接在所述第1导体部与所述第2导体部之间的缩颈部。
3.根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1导体部及第2导体部的截面积大于所述缩颈部的截面积。
4.根据权利要求2或3所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1导体部及第2导体部的长度大于所述缩颈部的长度。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1导体部及第2导体部的厚度大于或等于0.5mm。
6.根据权利要求2至5中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述过电流切断机构由1个导电体构成。
7.根据权利要求2至6中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1导体部及第2导体部构成相对于所述绝缘基板的上表面而直立的平行平板。
8.根据权利要求7所述的半导体装置,其特征在于,
在成为所述平行平板的所述第1导体部及第2导体部之间插入有绝缘物。
9.根据权利要求2至8中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述半导体装置还具有:
封装材料,其将所述绝缘基板及所述半导体芯片封装;以及
盖,
所述缩颈部的至少1个面从所述封装材料露出且被所述盖覆盖。
10.根据权利要求2至8中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
还具有将所述绝缘基板及所述半导体芯片封装的封装材料,
所述缩颈部的至少1个面从所述封装材料露出,被由与所述封装材料不同的材料构成的绝缘材料覆盖。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述半导体芯片由宽带隙半导体形成。
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