[发明专利]一种MEMS硅基孔腔雾化芯及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202210019347.5 申请日: 2022-01-04
公开(公告)号: CN114158783A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 李文翔;王敏锐 申请(专利权)人: 美满芯盛(杭州)微电子有限公司
主分类号: A24F40/46 分类号: A24F40/46;A24F40/40;A24F40/10;A24F40/42;A24F40/70
代理公司: 苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙) 32359 代理人: 罗磊
地址: 311231 浙江省杭州市萧山区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 mems 硅基孔腔 雾化 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种MEMS硅基孔腔雾化芯,其特征在于,包括:硅衬底(1)、填充层(2)和加热丝(3),所述硅衬底(1)一侧表面设置有若干个微孔、相对的另一侧表面设置有至少一个进液孔(11),所述微孔包括雾化孔(12)和释放孔(13),所述硅衬底(1)内部设置有储液腔(14),所述释放孔(13)连通至所述储液腔(14),所述雾化孔(12)连通至所述储液腔(14),所述进液孔(11)连通至所述储液腔(14),所述填充层(2)制作在所述硅衬底(1)上所述微孔一侧表面,所述填充层(2)封闭所述释放孔(13)顶部,所述加热丝(3)制作在所述填充层(2)表面,所述加热丝(3)的端部设置有接触电极(31)。

2.根据权利要求1所述的一种MEMS硅基孔腔雾化芯,其特征在于,所述雾化孔(12)的孔径大于所述释放孔(13)的孔径。

3.根据权利要求1或2所述的一种MEMS硅基孔腔雾化芯,其特征在于,所述雾化孔(12)的孔径小于所述进液孔(11)的孔径。

4.一种MEMS硅基孔腔雾化芯的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、准备硅衬底(1);

S2、在所述硅衬底(1)上使用干法或湿法蚀刻工艺,加工出雾化孔(12)和释放孔(13);

S3、使用干法或湿法蚀刻工艺,通过所述雾化孔(12)和所述释放孔(13),将两者底部的硅材料刻蚀掉,在所述硅衬底(1)内部形成一个空腔,作为储液腔(14);

S4、在所述硅衬底(1)表面沉积填充层(2),所述填充层(2)将所述释放孔(13)的顶部密封;

S5、在所述填充层(2)表面沉积金属材质的加热丝(3),并通过干法蚀刻工艺或湿法腐蚀工艺做出特定图形;

S6、通过干法蚀刻或湿法蚀刻在所述硅衬底(1)背面蚀刻出进液孔(11),完成雾化芯加工。

5.根据权利要求4所述的一种MEMS硅基孔腔雾化芯的制造方法,其特征在于,在所述步骤S4中,所述填充层(2)包括氧化硅、氮化硅、多晶硅中的一种或多种。

6.根据权利要求4所述的一种MEMS硅基孔腔雾化芯的制造方法,其特征在于,在所述步骤S5中,所述加热丝(3)的材质包括Al、Ti/Au、Ti/Pt、Ti/TiN/Au、Ti/TiN/Pt、Ta/Au、Ta/Pt、Ta/TaN/Au、Ta/TaN/Pt。

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