[发明专利]芯片的信号测试方法、系统、设备、存储介质及程序产品

权利要求书

1.一种芯片的信号测试方法，其特征在于，所述芯片具有多个输入信号，所述信号测试方法包括：

获取所述芯片的所有所述输入信号；

获得每个所述输入信号的时间参数；

将所有所述输入信号的时间参数生成结果表格。

2.根据权利要求1所述的信号测试方法，其特征在于，每个所述输入信号对应一组电路单元，每组所述电路单元包括一个驱动电路和至少一个负载电路。

3.根据权利要求2所述的信号测试方法，其特征在于，获得每个所述输入信号的时间参数包括：

提取每个所述输入信号对应的一组电路单元中的寄生电阻电容网络电路；

根据相对应的所述电路单元和所述寄生电阻电容网络电路，生成每个所述输入信号的测试电路；

利用所述测试电路测试对应的所述输入信号，获得所述输入信号的所述时间参数。

4.根据权利要求3所述的信号测试方法，其特征在于，根据相对应的所述电路单元和所述寄生电阻电容网络电路，生成每个所述输入信号的测试电路，包括：

确定所述驱动电路对应的第一替换单元；

确定各所述负载电路所对应的第二替换单元；

根据所述第一替换单元、所述至少一个第二替换单元和所述寄生电阻电容网络电路，生成所述测试电路。

5.根据权利要求4所述的信号测试方法，其特征在于，确定所述驱动电路对应的第一替换单元，包括：

在所述驱动电路中提取一级驱动单元，所述一级驱动单元包括所述驱动电路中的第一级电路逻辑单元；

将所述驱动电路中的第一级电路逻辑单元确定为所述第一替换单元。

6.根据权利要求5所述的信号测试方法，其特征在于，所述驱动电路中的第一级电路逻辑单元为反相器。

7.根据权利要求4所述的信号测试方法，其特征在于，针对所述至少一个负载电路中的任意一个负载电路，确定所述负载电路对应的第二替换单元，包括：

在所述负载电路中提取一级负载单元，所述一级负载单元包括所述负载电路中的第一级电路逻辑单元；

将所述负载电路中的第一级电路逻辑单元确定为所述第二替换单元。

8.根据权利要求7所述的信号测试方法，其特征在于，所述负载电路中的第一级电路逻辑单元为标准逻辑单元，包括反相器、与门、或门、非门、与非门、或非门。

9.根据权利要求4所述的信号测试方法，其特征在于，根据所述第一替换单元、所述至少一个第二替换单元和所述寄生电阻电容网络电路，生成所述测试电路，包括：

通过第一端口，连接所述第一替换单元和所述寄生电阻电容网络电路；以及，通过至少一个第二端口，连接所述至少一个第二替换单元和所述寄生电阻电容网络电路，得到所述测试电路。

10.根据权利要求4-9任一项所述的信号测试方法，其特征在于，利用所述测试电路测试相对应的所述输入信号，获得所述输入信号的所述时间参数，包括：

通过所述第一替换单元的输入端向所述测试电路输入所述输入信号；

获取所述测试电路的至少一个第二替换单元的输入端的至少一个结果信号；

根据所述至少一个结果信号，确定所述输入信号的所述时间参数。

11.根据权利要求10所述的信号测试方法，其特征在于，根据所述至少一个结果信号，确定所述输入信号的所述时间参数，包括：

获取每个结果信号的时间参数；

将所述至少一个结果信号的时间参数中的最大值确定为所述输入信号的时间参数。

12.根据权利要求3-9任一项所述的信号测试方法，其特征在于，提取每个所述输入信号对应的一组电路单元中的寄生电阻电容网络电路，包括：

确定所述电路单元的标准寄生参数格式文件；

根据所述标准寄生参数格式文件，建立所述寄生电阻电容网络电路。