[发明专利]一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法

说明书

本发明公开了一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法,S1.对被测电子系统进行敏感阈值稳定性测试；S2.设定五类基本信号，并利用五类基本信号分别对被测电子系统进行敏感阈值测试；S3.对被测电子系统进行时间相关性分析和拓展测试，判断被测电子系统的时间相关敏感类型和对应的最敏感信号；S4.对被测电子系统进行带宽相关性分析和拓展测试，判断被测电子系统的带宽相关敏感类型和对应的最敏感信号；S5.将时间相关敏感类型对应的最敏感信号与带宽相关敏感类型和对应的最敏感信号进行组合，利用组合敏感信号对被测电子系统进行测试，生成敏感阈值曲线T6。本发明能够全面考察系统边界问题，为未知环境下电子系统的电磁环境适应性判断提供依据。

技术领域

本发明涉及电磁环境测试，特别是涉及一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法。

背景技术

随着5G、物联网、人工智能等新技术在社会中的广泛应用，电子信息系统所面临的电磁环境日益复杂，引发的电磁兼容问题日渐增多，给电子信息系统设计、研制和使用提出挑战。电子信息系统在电磁环境下所产生的电磁环境效应问题解决不好，将会产生严重的“自扰、互扰”问题，影响电子信息系统性能。

对于设计和研制阶段的电子信息系统，摸清其电磁环境效应边界，清晰描述其能在什么样的环境下可以工作，能达到什么性能，提出其使用边界，是电子信息系统在复杂电磁环境中生存和工作的关键。

当前电子信息系统电磁兼容试验，主要采用单一信号测试，存在无法全面考察系统边界问题，无法为未知环境下电子信息系统的电磁环境适应性提供依据。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法，能够全面考察系统边界问题，为未知环境下电子系统的电磁环境适应性判断提供依据。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：一种用于电子系统的电磁环境效应边界测试方法，包括以下步骤：

S1.对被测电子系统进行敏感阈值稳定性测试；

所述步骤S1包括：

S101.预先设定稳定性测试信号的频点和信号波形；

S102.设置稳定性测试的时间节点为：

试验开始时连续测试三次，每次间隔1分钟，测试敏感状态的短时稳定性；

试验开始后每隔2小时进行一次测试，保证敏感状态在试验中的稳定性；

试验结束后进行一次测试；

S103.利用稳定性测试信号,在设置的时间节点下对被测电子系统进行测试，并记录各个时间节点下测得的敏感阈值，记为A1,A2,…An；其中n表示总共测试的次数；

S104.判断敏感阈值的稳定性：

首先计算其中i∈[1,n]，为A1,A2,…An的平均值；

若满足MAD≤2dB，认为敏感阈值是相对稳定的，进入步骤S2，若不满足MAD≤2dB，返回步骤S101。

S2.设定五类基本信号，并利用五类基本信号分别对被测电子系统进行敏感阈值测试，得到敏感阈值测试曲线T1～T5；

所述步骤S2包括以下步骤：

S201.设定五类基本信号，分别为：

第1类信号采用调制方式为单频连续波的单频信号；

第2类信号采用的调制方式为脉冲调幅，占空比50％，脉冲频率1kHz；

第3类信号采用的调制方式为脉冲调幅，占空比10％，脉冲频率1kHz；