[发明专利]一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，包括：

上端设置有开口的电极盒(1)；

贯穿所述电极盒(1)相对两侧的侧板(11)，用于水平放置扁电磁线直线试样(2)的通孔(3)；

收容于所述电极盒(1)内的导电球体(4)，所述导电球体(4)接地，所述扁电磁线直线试样(2)的导电端(21)与电源(5)相连。

2.根据权利要求1所述的扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，

所述电极盒(1)，还包括，

沿所述侧板(11)的高度方向设置，垂直于所述扁电磁线直线试样(2)的第一盲孔(12)，且所述第一盲孔(12)与所述通孔(3)连通；

插入所述第一盲孔(12)，与所述扁电磁线直线试样(2)的上表面抵接的第一定位块(13)。

3.根据权利按要求2所述的扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，

所述电极盒(1)，还包括，

设置在所述侧板(11)的一侧，垂直于所述扁电磁线直线试样(2)的第二盲孔(14)，所述第二盲孔(14)与所述通孔(3)连通；

插入所述第二盲孔(14)，与所述扁电磁线直线试样(2)的侧面抵接的第二定位块(15)。

4.根据权利要求3所述的扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，

所述电极盒(1)，还包括，

设置在所述第二定位块(15)与所述扁电磁线直线试样(2)抵接的一端的U形槽(16)，所述第一定位块(13)卡在所述U形槽(16)内，且所述U形槽(16)的端面与所述扁电磁线直线试样(2)的侧面抵接。

5.根据权利要求4所述的扁电磁线直线击穿电压检测装置，其特征在于，

所述第一盲孔(12)与所述第一定位块(13)之间，所述第二盲孔(14)与所述第二定位块(15)之间均为间隙配合。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，

所述导电球体(4)采用金属材料制成。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的扁电磁线直线击穿电压的检测装置，其特征在于，

所述电极盒(1)采用绝缘材料制成。

8.一种扁电磁线直线击穿电压的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、将扁电磁线直线试样(2)贯穿电极盒(1)两侧的通孔(3)放置；

步骤二、往电极盒(1)内倒入导电球体(4)直至所述导电球体(4)淹没扁电磁线直线试样(2)的上表面；

步骤三、将导电球体(4)接地，所述扁电磁线直线试样(2)的导电端(21)与电源(5)相连，直至扁电磁线直线试样(2)的绝缘层(22)被击穿，确定所述扁电磁线直线试样(2)的击穿电压。

9.根据权利要求8所述的扁电磁线直线击穿电压的检测方法，其特征在于，在将扁电磁线直线试样(2)贯穿电极盒(1)两侧的通孔(3)放置步骤之后且往电极盒(1)内倒入导电球体(4)步骤之前，还包括下述步骤：

将第一定位块(13)插入第一盲孔(12)内，以使得所述第一定位块(13)与所述扁电磁线直线试样(2)的上表面抵接。

10.根据权利要求9所述的扁电磁线直线击穿电压的检测方法，其特征在于，

在将第一定位块(13)插入第一盲孔(12)内步骤之后且往电极盒(1)内倒入导电球体(4)步骤之前，还包括下述步骤：

将第二定位块(15)插入第二盲孔(14)内，以使得所述第二定位块(15)与所述扁电磁线直线试样(2)的侧面抵接。