[发明专利]析锂检测方法、电子设备、充电装置及存储介质

权利要求书

1.一种析锂检测方法，包括：

获取电化学装置的充电初始SOC；

响应于所述充电初始SOC小于第一阈值，对所述电化学装置进行间歇式充电，在所述间歇式充电时获取所述电化学装置的第一数据，根据所述第一数据确定所述电化学装置的第一析锂程度；

响应于所述电化学装置的SOC到达第二阈值时，对所述电化学装置进行恒流充电，并静置，在静置时获取所述电化学装置的第二数据，根据所述第二数据确定所述电化学装置的第二析锂程度，所述第一阈值小于所述第二阈值；

根据所述第一析锂程度以及所述第二析锂程度，确定所述电化学装置是否析锂。

2.根据权利要求1所述的析锂检测方法，还包括：

响应于所述充电初始SOC不小于第一阈值，在所述电化学装置的SOC到达第二阈值后，对所述电化学装置进行恒流充电，并静置，在静置时获取所述电化学装置的第二数据，根据所述第二数据确定所述电化学装置的第二析锂程度；

根据所述第二析锂程度，确定所述电化学装置是否析锂。

3.根据权利要求1所述的析锂检测方法，其中，所述间歇式充电包括多个充电期间以及多个间断期间，所述第一数据包括在所述间断期间所述电化学装置的SOC和内阻，所述根据所述第一数据确定所述电化学装置的第一析锂程度，包括：

基于各间断期间的所述SOC和所述内阻，得到第一曲线，所述第一曲线表示所述内阻随所述SOC的变化；

基于所述第一曲线，确定所述第一析锂程度。

4.根据权利要求3所述的析锂检测方法，其中，所述基于各间断期间的所述SOC和所述内阻，得到第一曲线，包括：

获取所述电化学装置在该间断期间开始时间点的第一端电压和在该间断期间结束时间点的第二端电压；

确定所述第一端电压和所述第二端电压的电压差；

基于所述电压差和所述充电期间所述电化学装置的充电电流，确定所述内阻；

获取该间断期间的SOC；

基于所述SOC和所述内阻，得到所述第一曲线。

5.根据权利要求3所述的析锂检测方法，其中，所述基于所述第一曲线，确定所述第一析锂程度，包括：

基于所述第一曲线，确定所述电化学装置的析锂SOC；

基于所述析锂SOC，确定所述第一析锂程度。

6.根据权利要求5所述的析锂检测方法，其中，所述基于所述第一曲线，确定所述电化学装置的析锂SOC，包括方式A1和方式A2中的至少一个，其中，

所述方式A1包括：

对所述第一曲线进行微分，得到第一微分曲线；

确定所述第一微分曲线是否具有极大值和极小值；

如果所述极大值和所述极小值都存在，确定所述极大值对应的SOC为所述析锂SOC；

所述方式A2包括：

对所述第一曲线进行微分，得到第一微分曲线；

对所述第一微分曲线进行微分，得到第二微分曲线；

如果所述第二微分曲线存在第一过零点和第二过零点，且所述第二微分曲线在第一过零点的左侧为正，右侧为负，在第二过零点的左侧为负，右侧为正，确定所述第二微分曲线在第一过零点对应的SOC为所述析锂SOC。

7.根据权利要求5所述的析锂检测方法，其中，所述基于所述析锂SOC，确定所述第一析锂程度，包括：

获取第一临界析锂SOC和第二临界析锂SOC，其中，所述第一临界析锂SOC是析锂到达第一预定程度和未到达第一预定程度之间的分界点的SOC，所述第二临界析锂SOC是析锂到达第二预定程度和未到达第二预定程度之间的分界点的SOC；

以公式(SOC_i-SOC₀)/(SOC_H-SOC₀)计算所述第一析锂程度，其中，SOC₀是第一临界析锂SOC，SOC_H是第二临界SOC，SOC_i是所述析锂SOC。