[发明专利]孔缝阻抗测试装置、方法及服务器机箱的孔缝屏蔽结构

说明书

本申请公开了孔缝阻抗测试装置、方法及服务器机箱的孔缝屏蔽结构，其中测试装置包括：双端子阻抗表和连接于双端子阻抗表上的两个端子探头，两个所述端子探头绝缘贴合固定在一起且呈锥形设置，以使所述端子探头的顶部能够深入至所述孔缝内并使所述端子探头的外表面接触所述孔缝。通过将传统的两个独立的端子探头绝缘合并在一起，测试时将合并后的端子探头的尖端伸入至孔缝内实现测试，可以减少测试的误差，准确测量孔缝的阻抗。

技术领域

本申请涉及数据处理设备技术领域，特别是涉及一种孔缝阻抗测试装置、方法及服务器机箱的孔缝屏蔽结构。

背景技术

老化试验是电子产品必须要进行的测试试验，虽然通过老化测试的电子产品的功能仍然可以保持正常。但是，经历过了老化试验，电子产品的零部件和机箱等都会遭到不同程度的影响，这些影响很有可能对电磁兼容中的防静电和防辐射等性能造成影响。尤其像服务器机箱不可避免地会有许多孔缝，经历了老化试验后，孔缝等部分会发生肉眼不可见的腐蚀，此种腐蚀会影响到孔缝处的接地阻抗。由于服务器机箱的屏蔽效能是和孔缝阻抗成反比的，在腐蚀严重影响孔缝处的接地阻抗时，会影响到服务器机箱的屏蔽效能，因此需要对孔缝阻抗进行测量分析，分析其孔缝阻抗的高低，从而便于对电磁干扰加以抑制，提高服务器机箱的屏蔽效能。

如图1所述，相关技术中使用双端子阻抗表1通过两个独立的端子探头2对被测试材料的表面进行测量，但是经过老化试验的表面材料对压力变的非常敏感，采用两个探头测量方式容易造成测量孔缝阻抗误差较大，从而影响孔缝阻抗的分析结果。

发明内容

本申请提供一种孔缝阻抗测试装置、方法及服务器机箱的孔缝屏蔽结构，为解决相关技术中对经过老化试验的服务器机箱表面材料进行测试时测量误差较大，从而影响孔缝阻抗分析的问题。

根据一些实施例，本申请提供了一种孔缝阻抗测试装置，包括：双端子阻抗表和连接于双端子阻抗表上的两个端子探头，两个所述端子探头贴合固定在一起且顶部设置为尖端，以使所述端子探头的顶部能够深入至所述孔缝内并使所述端子探头的外表面接触所述孔缝。

优选的是，两个所述端子探头的竖截面均为直角三角形，两个所述端子探头的竖截面中较长的直角边所在的侧面相互贴合并绝缘设置。

优选的是，两个所述端子探头的外表面上沿其顶部到根部的方向上分别设置有刻度线，用以判断两个所述端子探头伸入至所述孔缝内的距离是否存在误差。

优选的是，所述刻度线为毫米级。

根据一些实施例，本申请还提供了一种孔缝阻抗测试方法，采用所述的孔缝阻抗测试装置进行测试，其中包括如下步骤：选取一所述孔缝阻抗测试装置，用电压档测出所述孔缝的电压值；选取与所述孔缝阻抗测试装置相同的另一孔缝阻抗测试装置，用电流档测出电流；根据欧姆定律计算出所述孔缝的阻抗值。

优选的是，两个所述端子探头伸入至孔缝内之间的刻度误差不超过1mm。

根据一些实施例，本申请还提供了一种服务器机箱的孔缝屏蔽结构，根据孔缝阻抗测试装置测试服务器机箱经过老化试验前后的孔缝阻抗变化值，并对服务器机箱的孔缝屏蔽结构进行改进。

优选的是，服务器机箱包括机箱外壳和机箱上盖，机箱外壳和机箱上盖在搭接的位置处楔形结合，在封闭孔缝的同时能够对孔缝间施加压力，以降低孔缝阻值。

优选的是，对于机箱外壳上开缝隙时，分析服务器机箱内部共模电流的走向，使缝隙的走向与共模电流的走向相同设置，以缩短共模路径的走向路径。

优选的是，对于机箱外壳上开孔时，将开孔布局在服务器机箱内辐射源与接地点连线之间的旁侧，并且在辐射源与接地点的共模电流路径区域宽度20mm内禁止开孔。

本公开的实施例至少具有以下优点：