[发明专利]一种定向生长的GeSe2有效

专利信息
申请号: 202210036202.6 申请日: 2022-01-13
公开(公告)号: CN114368729B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 毛宇亮;邓纪财;吴鑫 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: C01B19/04 分类号: C01B19/04;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 成都坤伦厚朴专利代理事务所(普通合伙) 51247 代理人: 杨敬禹
地址: 411105*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 定向 生长 gese base sub
【权利要求书】:

1.一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:在真空环境下,将硒粉和锗粉在进行分别加热的过程中进行化学气相淀积,即得定向生长的GeSe2纳米线;其中,化学气相淀积的生长基底置于锗粉上方;所述化学气相淀积的反应温度为:硒粉所在加热室内的温度为300~350℃,锗粉所在加热室内的温度为550~620℃,气相生长时间为10~18min;

在进行所述化学气相淀积反应时,从硒粉的一侧通入惰性气体和氢气的混合气体,所述惰性气体的气体流量为40~80sccm,氢气的气体流量为2~16sccm。

2.根据权利要求1所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:所述硒粉和锗粉的质量为2~4:1,所述硒粉和锗粉的纯度分别为95~99.9%。

3.根据权利要求2所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:所述硒粉和锗粉的质量为2~3:1。

4.根据权利要求1所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:所述硒粉和锗粉所在加热室的升温时间相同,且升温时间为10~20min。

5.根据权利要求1所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:所述硒粉和锗粉之间的间距为30~40cm。

6.根据权利要求1所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法,其特征在于:在所述化学气相淀积反应完成后,自然降温至室温后取出样品。

7.一种利用权利要求1~6任一项所述的一种定向生长的GeSe2纳米线的制备方法制备的GeSe2纳米线。

8.根据权利要求7所述的一种定向生长的GeSe2纳米线,其特征在于:所述GeSe2纳米线为沿着一定方向生长的正交相GeSe2纳米线结构。

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