[发明专利]一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法

权利要求书

1.一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于，适用于矿物颗粒胶结而成的岩石颗粒结构非均质度评价，其主要包括如下步骤：

S1.选取待测岩层，取样后将其制成岩样切片，获取微观颗粒结构图像；

S2.采用粒度分布统计分析软件记录所述清晰边缘结构图中各颗粒水平方向与铅垂方向投影的最大边界值，计算单颗粒对应的平均粒度；

S3.根据所述计算求得平均粒度，生成平均粒度分布图，并获得科学有效的粒度分布区间；

S4.结合所述科学有效区间中的最大颗粒、最小颗粒、平均粒度值，根据如下的非均质度参数计算模型，求得非均质度指标；

其中，为模型平均颗粒粒度,F为非均质度指标，D₁,D₂,D₃分别为矿物颗粒的最小粒度、平均粒度、最大粒度；

S5.基于所述非均质度指标定量评价岩石微观颗粒结构的非均质程度。

2.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于：

所述步骤S1中，包括如下步骤，

切片、选取待测岩层，取样后利用切片机进行岩石切片；

清洗、对切片后的岩石片进行清洗；

打磨、对清洗后的岩石片进行抛光、以制成0.3mm厚的岩石薄片；

观察、运用光学显微镜在单偏光镜下观察获取岩石微观颗粒结构图。

3.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于：

在所述步骤S2中，采用粒度分布统计分析软件，记录所述清晰边缘结构图中各颗粒水平方向与铅垂方向投影的最大边界值,根据各颗粒的最大水平和铅垂投影平均值计算颗粒粒度。

4.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于：

在所述步骤S3中，根据计算求得的细观颗粒结构平均粒度，生成粒度频率分布直方图；

然后确定显著性水平为0.05，求得科学置信度为95％的有效粒度区间。

5.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于：

在所述步骤S4中，充分考虑科学有效区间中的最大颗粒、最小颗粒、平均粒度值，根据所述的非均质度参数计算模型，求得非均质度指标。

6.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法，其特征在于：

在所述步骤S5中，其中，粒度差异越大，非均质度指标越大，表明颗粒结构的非均质性越强。