[发明专利]一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法在审

专利信息
申请号: 202210053143.3 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114333664A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 成卓;罗立坚;曹宏卫;袁家兴;白燕林 申请(专利权)人: 深圳市创显光电有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/32
代理公司: 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 代理人: 蒋芳霞
地址: 518000 广东省深圳市光明新区公明办*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 松动 检测 显示屏 拼接 组件 装配 方法
【权利要求书】:

1.一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,包括,其特征在于:所述显示屏检测方法,包括以下步骤:

S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;

S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;

S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;

S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;

S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;

S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

2.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;

所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值,所述通过电流的传输状况可以测出显示屏拼接是否紧密。

3.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统和光敏电阻阵列,所述控制系统用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值。

4.根据权利要求3所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:

S1熄灭所有字符段;

S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;

S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;

S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;

S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;

S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

5.根据权利要求4所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;

所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

6.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。

7.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

8.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统由单片机构成,所述所述单片机型号为AT89C51。

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