[发明专利]一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法在审
申请号: | 202210053143.3 | 申请日: | 2022-01-18 |
公开(公告)号: | CN114333664A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 成卓;罗立坚;曹宏卫;袁家兴;白燕林 | 申请(专利权)人: | 深圳市创显光电有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/32 |
代理公司: | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人: | 蒋芳霞 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公明办*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 松动 检测 显示屏 拼接 组件 装配 方法 | ||
1.一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,包括,其特征在于:所述显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
2.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值,所述通过电流的传输状况可以测出显示屏拼接是否紧密。
3.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统和光敏电阻阵列,所述控制系统用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值。
4.根据权利要求3所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:
S1熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
5.根据权利要求4所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
6.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。
7.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。
8.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统由单片机构成,所述所述单片机型号为AT89C51。
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