[发明专利]成像控制器和成像系统在审

专利信息
申请号: 202210053636.7 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN114246604A 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: Y-M·朱;C-H·董 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;G06T5/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 成像 控制器 系统
【权利要求书】:

1.一种成像控制器(10),包括电子处理器(12),所述电子处理器被编程为执行减少辐射剂量的成像方法,所述减少辐射剂量的成像方法包括:

使用发射成像系统(6)从对象采集当前发射成像数据(124);

在没有衰减校正的情况下重建所述当前发射成像数据,以生成所述对象的当前非衰减校正的发射图像(126);

生成用于将所述对象的先前非衰减校正的发射图像(116)空间对准到所述当前非衰减校正的发射图像的空间变换(130);

使用所述空间变换来扭曲与所述先前非衰减校正的发射图像空间对准的先前计算机断层摄影(CT)图像(112),以生成扭曲的CT图像(142);并且

通过以下方式利用使用所述扭曲的CT图像执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据,以生成所述对象(148、168)的当前衰减校正的发射图像:

使用CT成像系统(8)利用比用于采集所述先前CT图像(112)的X射线剂量更低的X射线剂量来采集所述对象的低剂量CT成像数据(160);

使用所述扭曲的CT图像(142)作为先验信息来重建所述低剂量CT成像数据,以生成所述对象的低剂量CT图像(162);并且

利用使用所述低剂量CT图像(162)作为衰减图而执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据(124)。

2.根据权利要求1所述的成像控制器,其中,所述发射成像是正电子发射断层摄影(PET)成像或单光子发射计算机断层摄影(SPECT)成像。

3.根据权利要求1所述的成像控制器,其中,所述先前非衰减校正的发射图像(116)是所述对象的先前非衰减校正的发射图像,并且所述先前CT图像(112)是所述对象的先前CT图像。

4.根据权利要求1所述的成像控制器,其中,所述减少辐射剂量的成像方法还包括:

从发射/CT研究图集中检索所述先前非衰减校正的发射图像(116)和与所述先前非衰减校正的发射图像空间对准的所述先前CT图像(112)。

5.一种成像控制器(10),包括电子处理器(12),所述电子处理器被编程为执行减少辐射剂量的成像方法,所述减少辐射剂量的成像方法包括:

使用发射成像系统(6)从对象采集当前发射成像数据(124);

在没有衰减校正的情况下重建所述当前发射成像数据,以生成所述对象的当前非衰减校正的发射图像(126);

生成用于将所述对象的先前非衰减校正的发射图像(116)空间对准到所述当前非衰减校正的发射图像的空间变换(130);

使用所述空间变换来扭曲与所述先前非衰减校正的发射图像空间对准的先前计算机断层摄影(CT)图像(112),以生成扭曲的CT图像(142);并且

利用使用所述扭曲的CT图像执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据,以生成所述对象(148、168)的当前衰减校正的发射图像;

其中,所述先前非衰减校正的发射图像(116)是所述对象的先前非衰减校正的发射图像,并且利用使用所述扭曲的CT图像(142)执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据(124)的操作包括:

使用以下中的至少一个来计算CT可再用性度量:(1)所述对象在所述对象的所述先前非衰减校正的发射图像的采集时间与来自所述对象的所述当前发射成像数据的采集时间之间的体重变化,以及(2)所述对象的所述当前非衰减校正的发射图像(126)与使用所述空间变换(130)而被空间对准的所述先前非衰减校正的发射图像(116)之间的相对重叠度量;并且

基于所述CT可再用性度量来执行以下操作中的一项:

(i)利用使用所述扭曲的CT图像(142)作为衰减图而执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据;以及

(ii)使用CT成像系统(8)利用比用于采集所述先前CT图像的X射线剂量更低的X射线剂量来采集所述对象的低剂量CT成像数据(160);使用所述扭曲的CT图像(142)作为先验信息来重建所述低剂量CT成像数据,以生成所述对象的低剂量CT图像(162);并且利用使用所述低剂量CT图像作为衰减图而执行的衰减校正来重建所述当前发射成像数据。

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