[发明专利]一种道床脏污检测数据的校准方法、校准装置和试验设备

权利要求书

1.一种道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，包括：

获取在相同环境下基准天线的测试值以及选定天线的测试值；

根据所述基准天线的测试值和所述选定天线的测试值，得到缩放系数；

通过所述缩放系数对所述选定天线的检测数据进行校准。

2.根据权利要求1所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，所述基准天线的测试值为：所述基准天线发射雷达信号后得到的回波信号峰谷差值或回波信号时域扫描面积；

所述选定天线的测试值为：所述选定天线发射雷达信号后得到的回波信号峰谷差值或回波信号时域扫描面积。

3.根据权利要求2所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，所述获取在相同环境下基准天线的测试值以及选定天线的测试值进一步包括：

在相同环境下分别将所述基准天线和所述选定天线通过第一试验设备进行试验，得到基准天线的回波信号峰谷差值和选定天线的回波信号峰谷差值；

或，在相同环境下分别将所述基准天线和所述选定天线通过第二试验设备进行试验，得到基准天线的回波信号时域扫描面积和选定天线的回波信号时域扫描面积。

4.根据权利要求2所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，所述根据所述基准天线的测试值和所述选定天线的测试值，得到缩放系数进一步包括：

根据所述基准天线的回波信号峰谷差值和所述选定天线的回波信号峰谷差值之间的相关性，得到第一缩放系数；

或，根据所述基准天线的回波信号时域扫描面积和所述选定天线的回波信号时域扫描面积之间的相关性，得到第二缩放系数。

5.根据权利要求4所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，

所述第一缩放系数通过如下公式计算：

其中，为第一缩放系数，V_R0为基准天线的回波信号峰谷差值，V_R为选定天线的回波信号峰谷差值。

6.根据权利要求4所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，

所述第二缩放系数通过如下公式计算：

μ＝StAb0/StAb；

其中，μ为第二缩放系数，StAb0为基准天线的回波信号时域扫描面积，StAb为选定天线的回波信号时域扫描面积。

7.根据权利要求1所述的道床脏污检测数据的校准方法，其特征在于，所述通过所述缩放系数对所述选定天线的检测数据进行校准进一步包括：

将所述缩放系数与选定天线的检测数据相乘，得到校准后的检测数据。

8.一种道床脏污检测数据的校准装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取在相同环境下基准天线的测试值以及选定天线的测试值；

确定模块，用于根据所述基准天线的测试值和所述选定天线的测试值，得到缩放系数；

校准模块，用于通过所述缩放系数对所述选定天线的检测数据进行校准。

9.一种道床脏污检测数据的试验设备，其特征在于，所述试验设备为第一试验设备；

所述第一试验设备包括两个第一支架、金属板、第一连杆、第一天线和第一主控单元，

所述金属板放置在两个所述第一支架中间，所述第一连杆的两端分别连接两个第一支架，所述第一天线设置在所述第一连杆上，所述第一天线与所述金属板之间保持第一设定距离；

所述第一天线用于接收第一主控单元的指令发射雷达信号，并接收回波信号后将回波信号发送至所述第一主控单元；

所述第一主控单元用于根据上述权利要求4、5或7中任一所述的方法，对所述回波信号进行处理，得到第一缩放系数。