[发明专利]三维成像方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种三维成像方法，其特征在于，包括：

获取目标物体对应的截断相位图，所述截断相位图包括每个像素点对应的相位；

将所述截断相位图输入事先训练好的绝对条纹级次分析模型进行处理，得到对应的绝对条纹级次图，所述绝对条纹级次图包括每个像素点所对应的绝对条纹级次序号；

根据所述截断相位图和所述绝对条纹级次图，得到绝对相位图，所述绝对相位图为绝对相位的连续相位图；

根据所述绝对相位图得到目标物体的三维信息，并对所述三维信息进行成像。

2.根据权利要求1的所述方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述截断相位图对应的变形条纹图，所述变形条纹图包括每个像素点的像素值；相应地，

将所述截断相位图输入事先训练好的绝对条纹级次分析模型进行处理，得到对应的绝对条纹级次图，包括：

将所述截断相位图和所述变形条纹图输入事先训练好的绝对条纹级次分析模型进行处理，得到对应的绝对条纹级次图。

3.根据权利要求1的所述方法，其特征在于，根据所述截断相位图和所述绝对条纹级次图，得到绝对相位图，包括：

所述截断相位图上每个像素点的相位加上所述绝对条纹级次图上该像素点的级次分别与2pi的乘积的值，从而得到所述绝对相位图。

4.根据权利要求1的所述方法，其特征在于，在所述将所述截断相位图输入事先训练好的绝对条纹级次分析模型进行处理之前，所述方法还包括：获取多条训练样本数据，每条所述训练样本数据包括：截断相位图、该截断相位图对应的绝对条纹级次图标签；

利用所述多条训练样本数据对初始的绝对条纹级次分析模型进行训练，得到训练好的所述绝对条纹级次分析模型。

5.根据权利要求4的所述方法，其特征在于，每条所述训练样本数据还包括：所述截断相位图对应的变形条纹图。

6.一种模型训练方法，其特征在于，包括：

获取多条训练样本数据，每条所述训练样本数据包括：截断相位图、该截断相位图对应的绝对条纹级次图标签；

利用所述多条训练样本数据对初始的绝对条纹级次分析模型进行训练，得到训练好的绝对条纹级次分析模型。

7.根据权利要求6的所述方法，其特征在于，每条所述训练样本数据还包括：所述截断相位图对应的变形条纹图。

8.一种三维成像装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取目标物体对应的截断相位图，所述截断相位图包括每个像素点对应的相位；

计算模块，用于将所述截断相位图输入事先训练好的绝对条纹级次分析模型进行处理，得到对应的绝对条纹级次图，所述绝对条纹级次图包括每个像素点所对应的绝对条纹级次序号；根据所述截断相位图和所述绝对条纹级次图，得到绝对相位图，所述绝对相位图为绝对相位的连续相位图；

成像模块，用于根据所述绝对相位图得到目标物体的三维信息，并对所述三维信息进行成像。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

存储器和处理器，所述处理器与所述存储器连接；

所述存储器，用于存储程序；

所述处理器，用于调用存储于所述存储器中的程序，以执行如权利要求1-7中任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时，执行如权利要求1-7中任一项所述的方法。