[发明专利]太阳辐射照度测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202210055098.5 申请日: 2022-01-18
公开(公告)号: CN114485924A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 尹凯丽;张晓静;谢静超;郝梓仰;景鹏飞;刘加平 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02
代理公司: 北京华专卓海知识产权代理事务所(普通合伙) 11664 代理人: 张继鑫
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 太阳辐射 照度 测量 装置 测量方法
【说明书】:

发明提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法,包括:机架;垂直太阳总辐射照度传感器组,其包括多个传感器,各所述传感器固定于机架,指向水平方向上的多个方向,用于检测垂直面上的太阳总辐射照度;水平太阳总辐射照度传感器组,其包括固定于所述机架的,指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器,分别用于测量天空总辐射照度,和地面反射的太阳辐射照度。本发明实现了同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位连续监测。

技术领域

本发明涉及地面太阳辐射测量技术领域,并且更具体地,涉及一种太阳辐射照度测量装置和测量方法。

背景技术

建筑外表面接受的太阳辐射照度值是建筑热工设计的重要依据,是建筑负荷计算以及建筑墙体热工性能研究的基本前提。一方面,国内外地面太阳辐射测量研究一般只针对水平面进行测量,垂直地面各朝向接受的太阳辐射多采用数学模型通过水平面测量结果进行垂直分量计算的方法得出;另一方面,建筑外表面同时会受到太阳直射辐射、太阳散射辐射以及地面反射辐射的共同作用。

因此,需要提出一种测量装置,已解决现有技术无法对同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位测量分析的问题。相应测量装置的研发可以提升建筑设计阶段理论分析的准确性,有助于对建筑各立面接受的太阳辐射来源进行科学分析。

发明内容

根据本发明的实施例,提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法,实现同一时间、同一地点的多方位测量太阳辐射照度,并同时测量多种辐射要素,各测量一体化。

在本发明的第一方面,提供了一种太阳辐射照度测量装置。该太阳辐射照度测量装置包括:

机架;

垂直太阳总辐射照度传感器组,其包括多个传感器,各所述传感器固定于机架,指向水平方向上的多个方向,用于测量垂直面上的太阳总辐射照度;

水平太阳总辐射照度传感器组,其包括固定于所述机架的,指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器,分别用于测量天空总辐射照度,和地面反射的太阳辐射照度。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述机架包括头部机架和从头部机架水平延伸的延伸部,在延伸部的末端设置尾架,以支撑所述延伸部保持水平,

垂直太阳总辐射照度传感器组设置于头部机架,

水平太阳总辐射照度传感器组设置于延伸部。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述头部机架包括水平设置于上端的十字支架部,

在所述十字支架部的四个支架末端,分别设置北向太阳总辐射照度传感器、南向太阳总辐射照度传感器、东向太阳总辐射照度传感器和西向太阳总辐射照度传感器。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述十字支架部上,支撑设置有架板,在架板上设置散射辐射表,

所述散射辐射表用于测量太阳辐射的散射部分。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,在所述头部支架下,设置辅助支架,用于连接所述延伸部,

所述水平面上向太阳总辐射照度传感器和所述水平面下向太阳总辐射照度传感器安装于所述延伸部,在水平面上的投影彼此重叠。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,具有围绕设置在所述水平面下向太阳总辐射照度传感器的外侧并竖直向下延伸的遮光罩。

如上所述的方面和任一可能的实现方式,进一步提供一种实现方式,所述架板采用透明材质。

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