[发明专利]基于一致最优势检验的隐秘信息提取方法

权利要求书

1.基于一致最优势检验的隐秘信息提取方法，其特征在于，包括：

步骤1：根据载密图像的像素或者可嵌DCT系数，估计隐秘信息长度m；

步骤2：给定第一类错误率α和第二类错误率β，计算样本容量N和门限值T；其中，第一类错误率α表示将真隐写密钥判定为伪隐写密钥的概率，第二类错误率β表示将伪隐写密钥判定为真隐写密钥的概率；步骤2具体包括：

步骤2.1：根据给定的第一类错误率α和第二类错误率β，计算得到临界值a,b：

步骤2.2：按照公式(28)计算得到样本容量N和门限值T：

其中，a,b满足φ(a)＝α，φ(b)＝1-β，μ₀和σ₀分别表示当H₀成立时R_i的期望与方差，μ₁和σ₁分别表示H₁成立时R_i的期望与方差；H₀和H₁表示假设检验问题，表示为H₀:F＝F₀，H₁:F＝F₁，F表示样本的总体分布函数，F₀表示真隐写密钥的分布函数，F₁表示伪隐写密钥的分布函数；设由隐写密钥提取出的序列为l，从第一字节的第j,j＝1,2,…,8比特位开始，每间隔7比特采样，一共采样n₀比特，得到子序列的第i位为表示利用真隐写密钥提取的第j条子序列的第i位的概率密度函数，χ₀,χ₁≠0.5；表示利用伪隐写密钥提取的序列的第i位的概率密度函数，γ₀,γ₁≈0.5；i＝1,2,…,n₀；

步骤3：按照公式(29)构造一致最优势检验统计量穷举校验矩阵空间中的每个校验矩阵依次执行统计量计算过程，所述统计量计算过程包括：利用当前时刻枚举的校验矩阵从载密图像中提取出序列，从所述序列的第一个字节的第j个比特开始，每间隔7比特进行采样，得到长度为N的子序列计算得到统计量的值；

其中，表示序列中0出现的个数，表示序列中1出现的个数

步骤4：判断Nm是否成立，若成立，则转到步骤7；反之，则转到步骤5；

步骤5：判断每个校验矩阵对应的是否成立，若成立，则将对应的检验矩阵存入密钥备选集B中；反之，则抛弃对应的校验矩阵；

步骤6：当判断完成所有校验矩阵对应的之后，若|B|＝1，则B中的校验矩阵即为真隐写密钥，提取成功；若|B|＝0，提取失败；若|B|1，令校验矩阵空间为B，转到步骤7；

步骤7：将使得达到最大值的校验矩阵存入密钥备选集D；若|D|＝1，则D中的校验矩阵即为真隐写密钥，提取成功；若|D|1，提取失败。