[发明专利]分析基带性能的方法和仿真系统

权利要求书

1.一种分析基带性能的方法，其特征在于，包括：

向基带芯片的仿真架构输入测试用例，得到测试数据，其中所述仿真架构为基于事务级模型的架构，且所述仿真架构包括基于System C语言建模而成的至少一个模块；其中，所述测试数据包括所述基带芯片的最大吞吐量和空口下行配置参数；

根据所述测试数据对所述基带芯片的性能进行分析。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基带芯片的仿真架构包括物理层处理模块、数据面搬移模块以及外部存储模块，所述物理层模块用于执行物理层操作，所述数据面搬移模块用于将所述物理层模块输出的基带数据搬移至所述外部存储模块中。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基带芯片的仿真架构还包括CPU模块，所述CPU模块、所述物理层处理模块、所述数据面搬移模块以及所述外部存储模块通过片上网络相连，所述数据面搬移模块以DMA的方式将所述基带数据搬移至所述外部存储模块中。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述CPU模块和所述数据面搬移模块内设置有用于对所述片上网络的流量进行跟踪调试的模块。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述物理层处理模块包括以下模块中的一种或多种：DSP核、微处理器核、片上存储器、HARQ模块、任务驱动模块，所述任务驱动模块与所述片上网络进行通信，以通过所述片上网络执行物理层相关的任务。

6.一种仿真系统，其特征在于，所述仿真系统上运行着基带芯片的仿真架构，所述仿真架构为基于事务级模型的架构，且所述仿真架构包括基于System C语言建模而成的至少一个模块，

所述仿真系统包括：

存储器，用于存储数据；

处理器，用于执行所述存储器中存储的数据，以执行以下操作：

向所述基带芯片的仿真架构输入测试用例，得到测试数据；其中，所述测试数据包括所述基带芯片的最大吞吐量和空口下行配置参数；

根据所述测试数据对所述基带芯片的性能进行分析。

7.根据权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述基带芯片的仿真架构包括物理层处理模块、数据面搬移模块以及外部存储模块，所述物理层模块用于执行物理层操作，所述数据面搬移模块用于将所述物理层模块输出的基带数据搬移至所述外部存储模块中。

8.根据权利要求7所述的仿真系统，其特征在于，所述基带芯片的仿真架构还包括CPU模块，所述CPU模块、所述物理层处理模块、所述数据面搬移模块以及所述外部存储模块通过片上网络相连，所述数据面搬移模块以DMA的方式将所述基带数据搬移至所述外部存储模块中。

9.根据权利要求8所述的仿真系统，其特征在于，所述CPU模块和所述数据面搬移模块内设置有用于对所述片上网络的流量进行跟踪调试的模块。

10.根据权利要求8所述的仿真系统，其特征在于，所述物理层处理模块包括以下模块中的一种或多种：DSP核、微处理器核、片上存储器、HARQ模块、任务驱动模块，所述任务驱动模块与所述片上网络进行通信，以通过所述片上网络执行物理层相关的任务。