[发明专利]一种自动化存储芯片测试装置

说明书

本发明公开了一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，所述滑动部活动设置在所述固定部之上，所述滑动部可以相对于所述固定部保持水平状态向后上方或前下方滑动，所述固定部包含芯片测试座，所述芯片测试座设置在所述固定部的正面，所述滑动部包含芯片压紧件，所述芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上，本发明在驱动气缸的驱动下可以实现自动开合以及自动化装载或卸载存储芯片,存储芯片装载到位后,本发明再在驱动气缸的驱动下闭合,从而实现存储芯片自动化装载与测试，本发明是实现存储芯片自动化测试的关键技术。

技术领域

本发明涉及一种存储芯片测试技术领域，特别是涉及一种自动化存储芯片测试装置。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高。存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向，只有采用自动化的测试，存储芯片才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。

而存储芯片测试的一个关键部件就是存储芯片测试装置，存储芯片测试装置是为了实现存储芯片的自动化测试而开发的一种容置待测存储芯片的部件，存储芯片测试装置可以有效的减少手动测试存储芯片的电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。

发明内容

针对以上现有技术的不足，本发明公开了一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部两部分, 滑动部可以在驱动气缸的驱动下向后上方滑动,此时表现为自动化存储芯片测试装置处于打开状态,在打开状态下可以实现自动化装载或卸载存储芯片,存储芯片装载到位后, 滑动部再在驱动气缸的驱动下向前下方闭合,直至压紧待测存储芯片。本发明记载的技术方案是实现存储芯片自动化测试的关键技术,本技术方案具体如下：

一种自动化存储芯片测试装置，包含固定部与滑动部，所述的滑动部活动设置在所述的固定部之上，所述的滑动部可以相对于所述的固定部向后上方或前下方滑动(本技术方案需要说明的是，“后上方”以及 “前下方”等方位词都是以本技术方案的主视图的主视方向为前方或正面，后视方向为后方或背面为参照的)。

进一步地，所述的固定部包含芯片测试座，所述的芯片测试座设置在所述固定部的正面。

进一步地，所述的滑动部包含芯片压紧件，所述的芯片压紧件设置在所述滑动部的正面，当所述滑动部向前下方滑动至工作位时，所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上。

进一步地，所述的固定部还包含固定板，所述的固定板上竖直设置有驱动气缸。

进一步地，所述的滑动部还包含滑动板，所述的滑动板上设置有滑动座，所述的滑动座连接所述驱动气缸的伸缩部，所述的滑动座被所述驱动气缸驱动并带动所述的滑动部滑动。

进一步地，所述的固定板的两侧端各设置有一个第一支撑板，所述的第一支撑板上设置有第一滑动槽。

所述的滑动板的两侧端各设置有一个第二支撑板，所述的第二支撑板上固定设置有滑动销。

所述的滑动销插接入所述的滑动槽中,并在所述的滑动槽中滑动。

进一步地，所述的固定板还设置有两个水平滑动的第一滑动件，所述的第一滑动件上设置有第三支撑板，所述的第三支撑板上设置第二滑动件。