[发明专利]一种齿轮双面啮合测试方法、装置、系统及存储介质

权利要求书

1.一种齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，包括：

获取主动齿轮的第一数据集、从动齿轮的第二数据集；其中，所述主动齿轮、所述从动齿轮之间通过弹性件啮合连接；所述第一数据集为所述主动轮转动时测量得到的若干第一啮合半径的集合；所述第二数据集为所述从动轮转动时测量得到的若干第二啮合半径的集合；所述第一啮合半径与所述第二啮合半径一一对应；

将每一所述第一啮合半径、对应的所述第二啮合半径之和作为初始中心距矩阵的矩阵元素，建立所述初始中心距矩阵；

执行循环过程直至满足预设条件，所述循环过程包括：

根据逼近法生成第一迭代半径矩阵；

根据所述矩阵元素对应的单位矩阵，计算得到所述第一迭代半径矩阵对应的目标中心距矩阵；

计算所述目标中心距矩阵和所述初始中心距矩阵之间的差值矩阵，并根据所述差值矩阵计算得到所述第一迭代半径矩阵对应的偏差值；

比较所述偏差值和预设差值；

确定当前所述第一迭代半径矩阵为实际啮合半径矩阵；

其中，所述预设条件为所述偏差值小于或等于所述预设差值。

2.根据权利要求1所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述获取主动齿轮的第一数据集、从动齿轮的第二数据集，包括：

获取所述主动齿轮的第一齿数、所述从动齿轮的第二齿数；

计算所述第一齿数、所述第二齿数的最小公倍数；

根据所述最小公倍数，设置单个第一旋转周期内所述第一啮合半径的第一采集数；其中，所述第一采集数为所述最小公倍数的整数倍；

确定所述主动齿轮的第一采样周期数、所述从动齿轮的第二采样周期数；

根据所述第一采样周期数、所述第二采样周期数、所述第一采集数，确定单个第二旋转周期内所述第二啮合半径的第二采集数；

根据所述第一采集数，采集所述第一采样周期数对应的所述主动齿轮对应的所述第一数据集；

根据所述第二采集数，采集所述第二采样周期数对应的所述从动齿轮对应的所述第二数据集。

3.根据权利要求1所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述根据逼近法生成第一迭代半径矩阵，包括：

根据预设的第一范围，随机生成第一增量矩阵；其中，所述第一增量矩阵在实际啮合半径的偏差预估值的范围内；

对所述第一增量矩阵和预设的初始半径矩阵求和，得到所述第一迭代半径矩阵。

4.根据权利要求3所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述根据逼近法生成第一迭代半径矩阵，还包括：

将所述第一范围的边界值均缩小一半，得到第二范围；

根据所述第二范围，随机生成所述第一迭代半径矩阵对应的第二增量矩阵；其中，所述第二增量矩阵在实际啮合半径的偏差预估值的范围内；

对所述第二增量矩阵和所述第一迭代半径矩阵求和，得到所述第二迭代半径矩阵。

5.根据权利要求1所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述根据所述矩阵元素对应的单位矩阵，计算得到所述迭代半径矩阵对应的目标中心距矩阵，包括：

对所述单位矩阵进行集成，得到集成矩阵；

对所述集成矩阵、所述第一迭代半径矩阵求积，得到所述目标中心矩阵。

6.根据权利要求5所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述计算所述目标中心距矩阵和所述初始中心距矩阵之间的差值矩阵，并根据所述差值矩阵计算得到所述第一迭代半径矩阵对应的偏差值，包括：

计算所述目标中心距矩阵和所述初始中心距矩阵之差，得到差值矩阵；

对所述差值矩阵的每一个元素取绝对值，获取绝对值数据集；

计算所述绝对值数据集中所有所述绝对值的标准差值；

计算当前所述标准差值和前一个所述循环过程生成的所述第一迭代半径矩阵对应的标准差值之差，得到当前所述第一迭代半径矩阵对应的偏差值。

7.根据权利要求1所述的齿轮双面啮合测试方法，其特征在于，所述循环过程还包括：

根据所述实际啮合半径矩阵，分别计算径向综合偏差、一齿径向综合偏差、齿圈径向跳动。